基于双相检的频标相位比对系统设计与实现
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 符号对照表 | 第11-12页 |
| 缩略语对照表 | 第12-15页 |
| 第一章 绪论 | 第15-19页 |
| 1.1 选题背景 | 第15-16页 |
| 1.2 国内外发展现状 | 第16页 |
| 1.3 论文的结构及主要安排 | 第16-17页 |
| 1.4 小结 | 第17-19页 |
| 第二章 传统的频标比对方法 | 第19-27页 |
| 2.1 示波器法 | 第19-20页 |
| 2.2 差拍法 | 第20-21页 |
| 2.3 频差倍增法 | 第21-23页 |
| 2.4 相位比较法 | 第23-26页 |
| 2.5 小结 | 第26-27页 |
| 第三章 相位重合检测理论 | 第27-39页 |
| 3.1 相位重合理论基础 | 第27-30页 |
| 3.2 等效鉴相频率概念 | 第30-32页 |
| 3.3 群周期相位理论基础 | 第32-35页 |
| 3.4 相位重合检测技术 | 第35-37页 |
| 3.4.1 相位重合点理论 | 第35页 |
| 3.4.2 相检宽带技术 | 第35-37页 |
| 3.5 小结 | 第37-39页 |
| 第四章 双相检比对技术原理及系统设计 | 第39-59页 |
| 4.1 双相检频标相位比对技术原理及其优点 | 第39-44页 |
| 4.1.1 技术原理 | 第39-42页 |
| 4.1.2 新方法的优点 | 第42-44页 |
| 4.2 系统硬件及外围测量电路 | 第44-54页 |
| 4.2.2 放大整形电路 | 第44-46页 |
| 4.2.3 相位重合检测模块 | 第46-51页 |
| 4.2.4 MCU控制模块 | 第51-52页 |
| 4.2.5 频率合成模块 | 第52-53页 |
| 4.2.6 其他硬件相关设计 | 第53-54页 |
| 4.3 统的软件组成 | 第54-58页 |
| 4.3.1 MCU软件部分 | 第55-56页 |
| 4.3.2 FPGA软件部分 | 第56页 |
| 4.3.3 上位机软件 | 第56-58页 |
| 4.4 小结 | 第58-59页 |
| 第五章 实验结果及误差分析 | 第59-69页 |
| 5.1 实验结果 | 第59-65页 |
| 5.1.1 自校实验 | 第60-62页 |
| 5.1.2 同频比对实验 | 第62-65页 |
| 5.1.3 结论 | 第65页 |
| 5.2 误差分析及改进 | 第65-68页 |
| 5.3 小结 | 第68-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 6.1 主要内容总结 | 第69-70页 |
| 6.2 展望 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简介 | 第75-76页 |
