基于概率电路的随机物理源设计研究
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 目录 | 第8-10页 |
| 插图和附表清单 | 第10-12页 |
| 1 绪论 | 第12-26页 |
| ·随机物理源设计技术简介 | 第12-22页 |
| ·随机序列基本概念及特性 | 第12页 |
| ·随机物理源设计技术的发展与应用 | 第12-17页 |
| ·随机物理源设计技术国内外研究现状与趋势 | 第17-21页 |
| ·随机物理源设计技术国内外研究现状 | 第17-20页 |
| ·随机物理源设计技术发展趋势 | 第20-21页 |
| ·随机物理源设计技术难点 | 第21-22页 |
| ·概率电路设计技术简介 | 第22-25页 |
| ·论文研究意义与创新点 | 第25页 |
| ·论文研究内容与论文结构 | 第25-26页 |
| 2 基本理论及原理 | 第26-31页 |
| ·振荡随机物理源设计基本原理 | 第26-28页 |
| ·概率电路单元设计基本原理 | 第28-31页 |
| 3 基于概率电路的随机物理源设计实现 | 第31-42页 |
| ·单元模块设计 | 第31-38页 |
| ·软非门设计 | 第31-32页 |
| ·软异或门设计 | 第32-33页 |
| ·概率信号放大单元设计 | 第33-35页 |
| ·电路参数分析确定 | 第35-38页 |
| ·概率电路工作状态要求 | 第36页 |
| ·归一化尾电流Iu范围 | 第36页 |
| ·参考电压Vref范围 | 第36-38页 |
| ·基于概率电路的随机物理源整体设计 | 第38-39页 |
| ·基于概率电路的随机物理源安全性能分析 | 第39-41页 |
| ·版图实现 | 第41-42页 |
| 4 仿真结果与测试 | 第42-59页 |
| ·MOS管亚阈值特性仿真 | 第42-46页 |
| ·概率电路单元特性仿真 | 第46-52页 |
| ·系统整体仿真 | 第52-56页 |
| ·输出随机序列统计分布测试 | 第56-58页 |
| ·不同随机物理源设计方法功耗面积比较 | 第58-59页 |
| 5 总结与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-64页 |
| 作者简介 | 第64-65页 |
| 作者攻读硕士学位期间发表的论文 | 第65页 |