有机电致发光器件的制备及其稳定性研究
摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
目录 | 第7-11页 |
第一章 绪论 | 第11-41页 |
·OLEDS 器件的发展历程 | 第12-13页 |
·OLEDS 器件的工作原理 | 第13-19页 |
·OLEDS 器件的器件结构 | 第13-15页 |
·OLEDS 器件的发光机理 | 第15-19页 |
·OLEDS 器件的稳定性 | 第19-29页 |
·黑斑衰减老化 | 第19-21页 |
·突变失效老化 | 第21页 |
·本征衰减老化 | 第21-24页 |
·提高 OLEDS器件稳定性的方式 | 第24-29页 |
·OLEDS 器件的制备和测试 | 第29-39页 |
·OLEDS 器件的制备 | 第29-37页 |
·OLEDS 器件性能测试 | 第37-39页 |
·论文的基本内容和安排 | 第39-41页 |
第二章 OLEDS稳定性测试系统的研制 | 第41-52页 |
·概述 | 第41-42页 |
·测试系统的设计及实现 | 第42-50页 |
·驱动电源的设计与实现 | 第42-46页 |
·光电探测单元 | 第46-48页 |
·数据采集电路 | 第48-49页 |
·计算机处理系统 | 第49-50页 |
·测试系统的应用 | 第50-51页 |
·本章小结 | 第51-52页 |
第三章 驱动方式对OLEDS稳定性的影响 | 第52-64页 |
·概述 | 第52-53页 |
·实验部分 | 第53-56页 |
·发光器件的制备及测试 | 第53-55页 |
·单载流子器件的制备及测试 | 第55-56页 |
·驱动方式对不同器件稳定影响的研究 | 第56-60页 |
·驱动方式对器件黑斑形成的影响 | 第60-63页 |
·本章小结 | 第63-64页 |
第四章 高场下OLEDS稳定性研究 | 第64-71页 |
·概述 | 第64-65页 |
·实验部分 | 第65-66页 |
·高场下器件稳定性的机理研究 | 第66-69页 |
·本章小结 | 第69-71页 |
第五章 OLEDS热稳定性及其传热模型的建立 | 第71-101页 |
·概述 | 第71页 |
·焦耳热对 OLEDS器件性能的影响 | 第71-73页 |
·传热学理论基础 | 第73-82页 |
·热量传递的三种基本形式 | 第73-78页 |
·热阻分析法 | 第78-79页 |
·导热的基本规律和稳态导热 | 第79-82页 |
·OLEDS 传热模型 | 第82-88页 |
·物理模型的建立 | 第82-84页 |
·数学模型的构建 | 第84-88页 |
·数据计算与分析 | 第88-91页 |
·热阻分布分析 | 第89-90页 |
·温度分布分析 | 第90-91页 |
·传热模型验证 | 第91-93页 |
·影响器件温度的因素 | 第93-100页 |
·基板参数对器件温度的影响 | 第93-95页 |
·阳极参数对器件温度的影响 | 第95-96页 |
·有机材料导热系数对器件温度影响 | 第96-97页 |
·阴极参数对器件温度的影响 | 第97-99页 |
·影响因素总结 | 第99-100页 |
·本章小结 | 第100-101页 |
第六章 无源矩阵OLEDS的制备 | 第101-110页 |
·概述 | 第101-102页 |
·无源矩阵 OLEDS设计 | 第102-103页 |
·阴极隔离柱的制备 | 第103-106页 |
·ITO 基片的清洗 | 第103-104页 |
·旋涂聚酰亚胺 | 第104页 |
·旋涂负性光刻胶 | 第104-105页 |
·光刻 | 第105页 |
·显影漂洗 | 第105页 |
·聚酰亚胺的碱性刻蚀 | 第105-106页 |
·单色无源 OLEDS的制备 | 第106-107页 |
·有机材料的选择 | 第106页 |
·有机材料及金属阴极的蒸镀 | 第106页 |
·器件封装 | 第106-107页 |
·制备过程中出现的问题及其解决方法 | 第107-109页 |
·聚酰亚胺薄膜(PI)刻蚀不干净 | 第107页 |
·聚酰亚胺薄膜刻蚀的深度问题 | 第107-108页 |
·聚酰亚胺的碱性刻蚀问题 | 第108页 |
·聚酰亚胺的亚胺化和光刻胶的融化现象 | 第108-109页 |
·蒸镀阴极容易阴阳极短路 | 第109页 |
·器件封装 | 第109页 |
·器件的放置 | 第109页 |
·本章小结 | 第109-110页 |
结束语 | 第110-113页 |
参考文献 | 第113-125页 |
发表文章目录 | 第125-126页 |
致谢 | 第126-127页 |