摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-11页 |
第一章 绪论 | 第11-21页 |
·研究背景与意义 | 第11-16页 |
·X 射线脉冲星 | 第11-13页 |
·X 射线脉冲星自主导航技术发展概况 | 第13-16页 |
·X 射线脉冲星自主导航的特点与意义 | 第16页 |
·本文主要研究内容 | 第16-19页 |
参考文献 | 第19-21页 |
第二章 X射线脉冲星导航原理及X射线探测器 | 第21-33页 |
·X 射线脉冲星导航系统组成及流程 | 第21-22页 |
·定位原理 | 第22-24页 |
·脉冲星相位时间模型 | 第22页 |
·时间坐标转换 | 第22-23页 |
·X 射线脉冲星定位原理 | 第23-24页 |
·X 射线脉冲星定姿原理 | 第24页 |
·X 射线探测器 | 第24-29页 |
·气体正比计数器 | 第25页 |
·闪烁探测器 | 第25-26页 |
·量热计探测器 | 第26页 |
·微通道板(MCP)探测器 | 第26-27页 |
·半导体探测器 | 第27页 |
·CCD 探测器 | 第27页 |
·SCD 探测器 | 第27-29页 |
·X 射线脉冲星导航用 X 射线探测器的研究进展 | 第29-30页 |
·本章小结 | 第30页 |
参考文献 | 第30-33页 |
第三章 模拟X射线脉冲源的研制 | 第33-59页 |
·模拟 X 射线源的技术指标 | 第33-34页 |
·X 射线源发生器 | 第34-37页 |
·X 射线的脉冲调制 | 第37-39页 |
·X 射线辐射强度衰减 | 第39-43页 |
·通过 X 射线管管流调节 X 射线强度 | 第39-40页 |
·X 射线辐射强度随距离的衰减 | 第40-41页 |
·聚酰亚胺膜(真空室输入窗)对 X 射线的衰减 | 第41-42页 |
·波长为 0.25nm 的准单色 X 射线源 | 第42-43页 |
·X 射线源辐射功率的标定 | 第43-54页 |
·X 射线源的标定方案 | 第43-44页 |
·用于 X 射线源标定的 AXUV100G 的标准 Si 探测器 | 第44-46页 |
·AXUV100G 探测器积分灵敏度的计算 | 第46-49页 |
·X 射线辐射强度与 X 射线管阳极电流的关系 | 第49-52页 |
·X 射线辐射强度与距离的关系 | 第52-54页 |
·准单色 X 射线源的标定 | 第54-56页 |
·本章小结 | 第56-57页 |
参考文献 | 第57-59页 |
第四章 MCP-XPCD研究 | 第59-96页 |
·光子计数探测技术 | 第59-61页 |
·MCP-XPCD | 第61-74页 |
·输入窗 | 第62页 |
·光电阴极 | 第62-68页 |
·微通道板 MCP | 第68-70页 |
·收集阳极 | 第70-74页 |
·电子读出系统 | 第74-78页 |
·快速前置放大器 | 第75-76页 |
·恒比定时器(CFD) | 第76-77页 |
·时间数字转换电路(TDC) | 第77-78页 |
·MCP-XPCD 的积分灵敏度 | 第78-81页 |
·光谱灵敏度 | 第81-83页 |
·噪声等效功率 | 第83-84页 |
·基于 MCP 的 X 射线探测器的时间特性 | 第84-91页 |
·MCP-XPCD 时间特性相关概念 | 第84-85页 |
·MCP-XPCD 输出信号时间特性与电压的关系 | 第85-87页 |
·MCP-XPCD 时间分辨率的测试 | 第87-89页 |
·MCP-XPCD 系统整体的死时间 | 第89-91页 |
·本章小结 | 第91-92页 |
参考文献 | 第92-96页 |
第五章 X射线脉冲星导航地面模拟系统实验结果与分析 | 第96-116页 |
·X 射线脉冲星导航地面模拟系统 | 第96-97页 |
·X 射线脉冲轮廓的获取 | 第97-104页 |
·X 射线脉冲轮廓的获取方法 | 第97-100页 |
·X 射线脉冲轮廓的获取实验 | 第100-104页 |
·系统时间特性对累积脉冲轮廓的影响 | 第104-106页 |
·MCP-XPCD 增益电压对累积脉冲轮廓的影响 | 第106-109页 |
·MCP-XPCD 增益电压对输出波形的影响 | 第106-107页 |
·MCP-XPCD 增益电压对累积脉冲轮廓的影响 | 第107-109页 |
·MCP-XPCD 灵敏度对累积脉冲轮廓信噪比的影响 | 第109-110页 |
·MCP-XPCD 采集系统的采集下限的讨论 | 第110-113页 |
·本章小结 | 第113-114页 |
参考文献 | 第114-116页 |
第六章 MCP-XPCID研究 | 第116-128页 |
·MCP-XPCID 系统 | 第116-117页 |
·MCP-XPCID 成像实验 | 第117-124页 |
·MCP-XPCID 的脉冲高度分布曲线(PHD) | 第117-118页 |
·MCP-XPCID 增益的空间一致性 | 第118-120页 |
·MCP 增益对空间分辨率的影响 | 第120-123页 |
·MCP-XPCID 空间分辨率测试 | 第123-124页 |
·软 X 射线透视成像实验 | 第124-126页 |
·本章小结 | 第126页 |
参考文献 | 第126-128页 |
第七章 X射线累积脉冲轮廓噪声的去除 | 第128-151页 |
·X 射线脉冲星辐射光子探测与累积脉冲轮廓构造模型 | 第128-129页 |
·基于三次样条平滑的 X 射线脉冲轮廓噪声的消除 | 第129-133页 |
·X 射线脉冲轮廓噪声的去噪算法 | 第129-131页 |
·实验与讨论 | 第131-133页 |
·基于 HARR 小波的 X 射线脉冲轮廓去噪 | 第133-141页 |
·HARR 小波去噪算法 | 第133-137页 |
·实验与讨论 | 第137-141页 |
·基于小波的脉冲星累积脉冲时间延迟的测量 | 第141-148页 |
·Taylor 频域算法 | 第141-142页 |
·基于小波的 Taylor 频域算法改进 | 第142-146页 |
·实验分析 | 第146-148页 |
·本章小结 | 第148-149页 |
参考文献 | 第149-151页 |
第八章 工作总结与展望 | 第151-155页 |
·工作总结 | 第151-154页 |
·工作展望 | 第154-155页 |
攻读博士学位期间发表论文目录 | 第155页 |
攻读博士学位期间专利申请情况 | 第155-156页 |
致谢 | 第156页 |