高性能北桥芯片中存储器接口的功能验证
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| ·课题研究背景和意义 | 第7页 |
| ·验证技术简介 | 第7-8页 |
| ·课题来源与论文章节安排 | 第8-11页 |
| 第二章 验证技术和方法 | 第11-19页 |
| ·验证技术介绍 | 第11-15页 |
| ·验证方法 | 第11-13页 |
| ·验证层次介绍 | 第13-14页 |
| ·观测点细节 | 第14-15页 |
| ·验证周期 | 第15-16页 |
| ·验证技术研究现状 | 第16-17页 |
| ·本章小结 | 第17-19页 |
| 第三章 高性能北桥芯片存储器接口 | 第19-33页 |
| ·X 桥片简介 | 第19-20页 |
| ·X 桥片存储器接口 | 第20-32页 |
| ·地址通路 | 第22页 |
| ·数据通路 | 第22-23页 |
| ·存储控制接口 | 第23-29页 |
| ·检纠错机制 | 第29-32页 |
| ·本章小结 | 第32-33页 |
| 第四章 存储器接口功能验证 | 第33-51页 |
| ·功能测试点 | 第33-34页 |
| ·验证流程 | 第34-35页 |
| ·验证平台的搭建 | 第35-37页 |
| ·测试激励的生成 | 第37-39页 |
| ·验证结果分析 | 第39-50页 |
| ·ROM 接口基本读操作验证 | 第39-41页 |
| ·异步 DRAM 接口基本操作验证 | 第41-45页 |
| ·SDRAM 接口基本操作验证 | 第45-47页 |
| ·检验功能验证 | 第47-50页 |
| ·本章小结 | 第50-51页 |
| 第五章 总结 | 第51-53页 |
| ·论文总结 | 第51页 |
| ·进一步工作 | 第51-53页 |
| 致谢 | 第53-55页 |
| 参考文献 | 第55-57页 |
