阵列天线方向图的遗传算法综合及零陷研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-15页 |
| ·课题的背景和意义 | 第10-11页 |
| ·国内外发展现状 | 第11-14页 |
| ·阵列方向图综合方法 | 第11-12页 |
| ·零陷技术的研究 | 第12-14页 |
| ·本文内容介绍 | 第14-15页 |
| 第2章 遗传算法的基本原理 | 第15-24页 |
| ·遗传算法及其特点 | 第15-16页 |
| ·遗传算法基本实现技术 | 第16-21页 |
| ·小生境遗传算法 | 第21-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 基于遗传算法的天线阵方向图综合 | 第24-35页 |
| ·传统综合方法 | 第24-28页 |
| ·契比雪夫天线阵综合 | 第24-26页 |
| ·泰勒天线阵综合 | 第26-27页 |
| ·仿真结果 | 第27-28页 |
| ·遗传算法用于阵列天线方向图综合 | 第28-34页 |
| ·线天线阵 | 第28-29页 |
| ·小生境遗传算法综合方向图 | 第29-33页 |
| ·方向图的综合结果和比较 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第4章 阵列天线的零点综合 | 第35-54页 |
| ·零点综合方法介绍 | 第35-39页 |
| ·幅值控制形成零陷 | 第35-38页 |
| ·幅相同时控制形成零陷 | 第38-39页 |
| ·遗传算法用于零点综合 | 第39-42页 |
| ·算法描述 | 第39-40页 |
| ·仿真实例 | 第40-42页 |
| ·宽零陷的形成 | 第42-53页 |
| ·宽零陷形成的原因 | 第42页 |
| ·导数约束法 | 第42-44页 |
| ·G-S正交法形成宽零陷 | 第44-47页 |
| ·零陷区域功率约束形成宽零陷 | 第47-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 阵元间互耦对阵列方向图的影响 | 第54-74页 |
| ·线天线的矩量法分析 | 第54-58页 |
| ·Pocklington方程 | 第54-55页 |
| ·矩量法分析 | 第55-58页 |
| ·天线阵广义阻抗矩阵的计算 | 第58-60页 |
| ·阵元间互耦对阵列方向图的影响 | 第60-63页 |
| ·阵元间互耦的补偿 | 第63-73页 |
| ·修正激励电流补偿法 | 第63-66页 |
| ·矩量法补偿 | 第66-68页 |
| ·本征激励法 | 第68-73页 |
| ·本章小结 | 第73-74页 |
| 结论 | 第74-76页 |
| 参考文献 | 第76-81页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文和取得的科研成果 | 第81-82页 |
| 致谢 | 第82页 |
