DBF阵列幅相误差校准及其稳健性算法
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 目录 | 第6-8页 |
| 1 绪论 | 第8-15页 |
| ·研究工作的背景及意义 | 第8-9页 |
| ·国内外研究现状 | 第9-11页 |
| ·阵列信号模型 | 第11-14页 |
| ·均匀线性阵列 | 第12-13页 |
| ·均匀平面阵列 | 第13-14页 |
| ·本文完成的主要工作 | 第14-15页 |
| 2 阵列幅相误差对数字波束形成的影响分析 | 第15-25页 |
| ·数字波束形成技术 | 第15-17页 |
| ·常规数字波束形成 | 第15-16页 |
| ·自适应波束形成 | 第16-17页 |
| ·阵列通道幅相误差模型 | 第17-18页 |
| ·阵列幅相误差对数字波束形成的影响 | 第18-24页 |
| ·幅相误差对CBF的影响 | 第18-20页 |
| ·幅相误差对ADBF的影响 | 第20-24页 |
| ·本章小结 | 第24-25页 |
| 3 基于分时工作信号源的远场校准方法 | 第25-39页 |
| ·引言 | 第25页 |
| ·基于分时工作信号源的均匀线阵校准 | 第25-34页 |
| ·分时工作信号源校准基本思想 | 第25-26页 |
| ·线阵分时工作信号源校准原理 | 第26-27页 |
| ·校准性能的分析与改善 | 第27-30页 |
| ·实验仿真 | 第30-34页 |
| ·基于分时工作信号源的均匀面阵校准 | 第34-37页 |
| ·面阵分时工作信号源校准原理 | 第34-35页 |
| ·校准条件择取 | 第35-36页 |
| ·实验仿真 | 第36-37页 |
| ·本章小结 | 第37-39页 |
| 4 基于互耦校正技术(MCT)的阵列校准方法 | 第39-54页 |
| ·引言 | 第39页 |
| ·MCT校准原理 | 第39-41页 |
| ·校准误差实验仿真分析 | 第41-51页 |
| ·阵列边缘误差 | 第41-43页 |
| ·标定误差 | 第43-44页 |
| ·阵列位置误差 | 第44-46页 |
| ·随机扰动误差 | 第46-51页 |
| ·MCT校准问题与改善 | 第51-53页 |
| ·路径选择 | 第51-53页 |
| ·需要注意的问题 | 第53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 5 基于白噪声增益约束的稳健性算法 | 第54-70页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·白噪声增益约束理论 | 第54-55页 |
| ·基于白噪声增益约束的稳健RLS算法 | 第55-62页 |
| ·GSC结构下的RLS算法 | 第55-56页 |
| ·稳健的RLS算法 | 第56-58页 |
| ·实验仿真 | 第58-62页 |
| ·基于白噪声增益约束的SMI算法 | 第62-69页 |
| ·白噪声增益不等式约束 | 第62-63页 |
| ·白噪声增益等式约束 | 第63-64页 |
| ·实验仿真 | 第64-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 6 结束语 | 第70-71页 |
| 致谢 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-76页 |
| 附录 | 第76页 |
