| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-9页 |
| 1 绪论 | 第9-13页 |
| ·工业CT 发展概况 | 第9-10页 |
| ·数据采集技术现状 | 第10-11页 |
| ·研究背景和意义 | 第11页 |
| ·课题设计的主要内容 | 第11-13页 |
| 2 工业CT 检测与PCI EXPRESS 总线 | 第13-29页 |
| ·X 射线工业CT 简介 | 第13-15页 |
| ·X 射线工业CT 检测原理 | 第13-14页 |
| ·线阵扫描系统型CT 机 | 第14-15页 |
| ·PCI EXPRESS 体系结构 | 第15-17页 |
| ·PCI Express 简介 | 第15页 |
| ·PCI Express 的线路 | 第15-17页 |
| ·PCI EXPRESS 的拓扑结构 | 第17-18页 |
| ·PCI EXPRESS 设备层 | 第18-23页 |
| ·PCI Express 设备层简介 | 第18-20页 |
| ·事务层 | 第20-22页 |
| ·数据链路层 | 第22-23页 |
| ·物理层 | 第23页 |
| ·事务层数据包 | 第23-25页 |
| ·TLP 一般格式 | 第24页 |
| ·TLP 路由 | 第24-25页 |
| ·PCI EXPRESS 配置空间 | 第25-29页 |
| ·配置空间结构 | 第25-26页 |
| ·头类型 | 第26页 |
| ·配置寄存器 | 第26-29页 |
| 3 系统方案及硬件设计 | 第29-47页 |
| ·硬件结构设计 | 第29-34页 |
| ·硬件方案设计 | 第29-30页 |
| ·XC5VLX20T FPGA 芯片介绍 | 第30-34页 |
| ·差分驱动/接收电路 | 第34-37页 |
| ·光电隔离电路 | 第37-39页 |
| ·光电隔离电路设计 | 第37-39页 |
| ·光电隔离电源 | 第39页 |
| ·FPGA 芯片电路设计 | 第39-41页 |
| ·芯片配置模块的电路 | 第39-40页 |
| ·芯片配置接口电路 | 第40-41页 |
| ·PCI EXPRESS 卡缘电路 | 第41-43页 |
| ·电源电路 | 第43-44页 |
| ·PCB 板设计 | 第44-47页 |
| 4 FPGA 逻辑控制设计 | 第47-63页 |
| ·VERILOG HDL 简介 | 第47-49页 |
| ·Verilog HDL 特点 | 第47-48页 |
| ·设计流程 | 第48-49页 |
| ·逻辑模块的划分 | 第49-50页 |
| ·数据转换模块 | 第50-52页 |
| ·串-并转换模块 | 第50-52页 |
| ·并-串转换模块 | 第52页 |
| ·PCI EXPRESS 硬核接口控制模块 | 第52-63页 |
| ·PCI Express 硬核介绍 | 第52-53页 |
| ·接口控制模块 | 第53-60页 |
| ·链路控制器 | 第60-61页 |
| ·DMA 控制器 | 第61-63页 |
| 5 PCI EXPRESS X1 数据采集卡实验板调试 | 第63-68页 |
| ·硬件调试 | 第63-64页 |
| ·电气调试 | 第63页 |
| ·逻辑测试 | 第63页 |
| ·连接调试 | 第63-64页 |
| ·驱动程序测试 | 第64-65页 |
| ·驱动程序加载 | 第64-65页 |
| ·功能测试 | 第65页 |
| ·数据传输测试 | 第65-68页 |
| ·测试程序设计 | 第65-66页 |
| ·命令发送调试 | 第66页 |
| ·数据接收测试 | 第66-68页 |
| 6 总结与展望 | 第68-70页 |
| ·总结 | 第68页 |
| ·展望 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-74页 |
| 附录 | 第74页 |