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印刷电路板综合环境加速试验方法研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
第1章 绪论第8-21页
    1.1 课题研究背景和意义第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-19页
    1.3 课题研究内容和思路第19-21页
第2章 温度循环和振动综合环境下疲劳分析与加速方法第21-31页
    2.1 随机振动疲劳分析方法第21-24页
    2.2 温度循环疲劳分析方法第24-28页
    2.3 综合环境疲劳分析方法第28-30页
    2.4 本章小结第30-31页
第3章 印刷电路板温度振动综合环境加速试验应变分析第31-39页
    3.1 印刷电路板综合环境步进试验第31-36页
    3.2 高低温振动应变分析第36-38页
    3.3 本章小结第38-39页
第4章 印刷电路板综合环境疲劳寿命仿真分析第39-58页
    4.1 印刷电路板有限元建模第39-40页
    4.2 随机振动疲劳仿真分析第40-45页
    4.3 温度循环疲劳仿真分析第45-51页
    4.4 综合环境疲劳仿真分析第51-57页
    4.5 本章小结第57-58页
第5章 印刷电路板综合环境疲劳加速试验第58-74页
    5.1 试验设计第58-62页
    5.2 常温随机振动加速试验结果第62-69页
    5.3 温度循环条件下随机振动加速试验结果第69-72页
    5.4 综合环境下温度循环和随机振动耦合影响分析第72-73页
    5.5 本章小结第73-74页
结论第74-76页
参考文献第76-79页
致谢第79页

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