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D-T/D-D快中子诱发238U裂变产物模拟及测量方法初步研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
第一章 引言第8-15页
    1.1 裂变核能利用综述第8-10页
        1.1.1 裂变核能利用的现状与展望第8-10页
    1.2 ~(238)U裂变产物研究的必要性第10-12页
    1.3 裂变产物实验测量方法综述第12-13页
    1.4 本论文研究内容第13-15页
第二章 中子与核的相互作用及裂变反应的基本理论第15-26页
    2.1 中子与原子核相互作用综述第15页
    2.2 中子诱发核裂变反应的基本理论第15-23页
        2.2.1 中子诱发重核裂变的理论模型及基本过程第15-17页
        2.2.2 裂变势垒和裂变阈能第17页
        2.2.3 可裂变核素与易裂变核素第17-18页
        2.2.4 核裂变反应研究中的相关物理量第18-23页
    2.3 ~(238)U裂变产额测量直接γ能谱法基本理论第23-26页
        2.3.1 方法及理论第23-25页
        2.3.2 需要研究的基本问题第25-26页
第三章 D-T/D-D中子诱发~(238)U裂变产物测的蒙特卡罗模拟研究第26-56页
    3.1 兰州大学D-T/D-D强流中子发生器简介第26-29页
        3.1.1 D-T中子源能谱第28页
        3.1.2 D-D中子源的能谱第28-29页
    3.2 蒙特卡罗方法及Geant4程序简介第29-30页
        3.2.1 蒙特卡罗方法第29-30页
        3.2.2 Geant4程序简介第30页
        3.2.3 MCNP程序简介第30页
    3.3 D-T快中子诱发~(238)U裂变过程的蒙特卡罗模拟第30-46页
        3.3.1 Geant4模拟模型建立第30-33页
        3.3.2 模拟结果及讨论第33-46页
    3.4 D-D快中子~(238)U裂变反应裂变产物的模拟第46-55页
        3.4.1 Geant4模拟模型建立第46-47页
        3.4.2 模拟结果及讨论第47-55页
    3.5 总结第55-56页
第四章 低本底HPGe探测器系统及其效率刻度初步研究第56-65页
    4.1 低本底HPGe探测器系统第56-57页
    4.2 探测器探测效率的实验刻度第57-60页
        4.2.1 实验刻度条件第57-59页
        4.2.2 实验刻度结果第59-60页
    4.3 探测器探测效率的蒙特卡罗模拟研究第60-64页
        4.3.1 Φ2mm面源条件下探测效率的蒙特卡罗模拟第60-62页
        4.3.2 Φ20mm面源条件下探测效率的蒙特卡罗模拟第62-64页
    4.4 小结第64-65页
第六章 总结与展望第65-67页
    6.1 主要结论第65页
    6.2 研究展望第65-67页
参考文献第67-69页
致谢第69-70页
附录一 Geant4程序部分代码第70-77页
附录二 MCNP程序GMX型探测器结构代码第77-79页
附录三 不同源距标准源能量点探测效率的公式拟合值第79页

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