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低压壳聚糖栅介质纸张薄膜晶体管

摘要第5-6页
Abstract第6-7页
第1章 绪论第10-25页
    1.1 引言第10-11页
    1.2 非晶氧化铟镓锌薄膜晶体管的发展历程及现状第11-15页
    1.3 氧化铟锡薄膜晶体管发展概况及相关原理第15-18页
    1.4 柔性衬底薄膜晶体管的应用第18-20页
    1.5 壳聚糖物质的基本概况第20-22页
    1.6 本文的研究背景和研究内容第22-25页
        1.6.1 研究背景第22-24页
        1.6.2 研究内容第24-25页
第2章 a-IGZO 纸张薄膜晶体管的制备与性能研究第25-36页
    2.1 实验准备第25-26页
    2.2 制备 a-IGZO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管第26-27页
        2.2.1 ITO 栅电极的制备第26页
        2.2.2 壳聚糖薄膜栅介质以及 a-IGZO 沟道层的制备第26-27页
        2.2.3 ITO 源漏电极的制备第27页
    2.3 实验结果与讨论第27-31页
        2.3.1 壳聚糖栅介质形貌表征第27-29页
        2.3.2 a-IGZO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管栅介质的电容特性第29页
        2.3.3 a-IGZO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管的漏电流特性第29-30页
        2.3.4 a-IGZO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管的电学性能第30-31页
    2.4 a-IGZO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管性能改进第31-35页
        2.4.1 a-IGZO 纸张薄膜晶体管 SiO2抗氧化层的制备第31-32页
        2.4.2 实验结果与讨论第32-35页
    2.5 本章小结第35-36页
第3章 ITO 纸张薄膜晶体管的制备与性能研究第36-43页
    3.1 实验准备第36页
    3.2 制备 ITO 壳聚糖电解质纸张薄膜晶体管第36-38页
        3.2.1 制备 ITO 栅电极第36-37页
        3.2.2 制备壳聚糖薄膜栅介质第37页
        3.2.3 一步法制备 ITO 源电极、漏电极及沟道层第37-38页
    3.3 结果与讨论第38-41页
    3.4 本章小结第41-43页
结论第43-45页
参考文献第45-53页
附录 A 攻读学位期间发表的学术论文第53-54页
致谢第54页

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