磁流变抛光中的工件自定位算法与系统实现
| 摘要 | 第9-10页 |
| ABSTRACT | 第10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 课题来源与意义 | 第11-12页 |
| 1.1.1 课题来源 | 第11页 |
| 1.1.2 课题研究意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状及文献综述 | 第12-17页 |
| 1.2.1 磁流变抛光技术研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.2 工件寻位算法研究现状 | 第14-15页 |
| 1.2.3 工件自定位系统研究现状 | 第15-17页 |
| 1.3 论文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第二章 工件寻位理论与算法研究 | 第19-34页 |
| 2.1 刚体变换基础理论 | 第19-21页 |
| 2.1.1 欧氏空间刚体变换 | 第19-20页 |
| 2.1.2 常见几何特征的位形空间 | 第20-21页 |
| 2.2 工件寻位算法的经典形式 | 第21-25页 |
| 2.2.1 搜寻测量点的工件模型对应点 | 第22页 |
| 2.2.2 求解欧氏空间变换矩阵 | 第22-24页 |
| 2.2.3 对称工件寻位问题 | 第24页 |
| 2.2.4 算法流程 | 第24-25页 |
| 2.3 同步迭代寻位算法 | 第25-29页 |
| 2.3.1 同步迭代准则函数及求解 | 第26-27页 |
| 2.3.2 算法流程 | 第27-28页 |
| 2.3.3 光学面形寻位 | 第28-29页 |
| 2.4 算法仿真 | 第29-33页 |
| 2.4.1 算法精度、效率仿真及分析 | 第30-32页 |
| 2.4.2 算法鲁棒性仿真及分析 | 第32-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 测头半径补偿与测量点分布优化 | 第34-46页 |
| 3.1 测头半径补偿 | 第34-36页 |
| 3.1.1 测头半径所引入的测量误差 | 第34-35页 |
| 3.1.2 等距面补偿法 | 第35-36页 |
| 3.2 曲面测量点分布优化 | 第36-41页 |
| 3.2.1 测量点分布与寻位误差的关系 | 第36-37页 |
| 3.2.2 测量点分布优化算法 | 第37-39页 |
| 3.2.3 优化分布仿真及寻位误差分析 | 第39-41页 |
| 3.3 磁流变抛光中的工件自定位测量点分布 | 第41-44页 |
| 3.3.1 工件自定位在磁流变抛光中的精度需求 | 第41-42页 |
| 3.3.2 寻位误差分析及测量点分布策略 | 第42-44页 |
| 3.4 本章小结 | 第44-46页 |
| 第四章 磁流变抛光机床工件自定位系统设计 | 第46-59页 |
| 4.1 测量机构设计 | 第46-49页 |
| 4.1.1 测量机构布局 | 第46-48页 |
| 4.1.2 干涉检查 | 第48-49页 |
| 4.2 接触式测头性能分析与实验 | 第49-54页 |
| 4.2.1 测头性能需求分析 | 第49-51页 |
| 4.2.2 光学表面测头触碰实验 | 第51页 |
| 4.2.3 系统重复定位精度实验 | 第51-54页 |
| 4.3 工件自定位系统软件设计 | 第54-58页 |
| 4.3.1 自动测量程序 | 第54页 |
| 4.3.2 后置处理算法 | 第54-56页 |
| 4.3.3 工件自定位软件 | 第56-58页 |
| 4.4 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 工件自定位磁流变抛光实验验证 | 第59-66页 |
| 5.1 去除函数稳定性实验 | 第59-60页 |
| 5.2 平面镜修形实验 | 第60-62页 |
| 5.3 非球面镜修形实验 | 第62-65页 |
| 5.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 总结与展望 | 第66-68页 |
| 6.1 全文总结 | 第66-67页 |
| 6.2 研究展望 | 第67-68页 |
| 致谢 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第72页 |
