单元抗辐射性能建模方法研究
摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第1章 绪论 | 第16-30页 |
1.1 研究背景及意义 | 第16-17页 |
1.2 国内外研究现状 | 第17-25页 |
1.2.1 工程背景 | 第17-19页 |
1.2.2 概率分布模型的研究现状 | 第19-20页 |
1.2.3 性能退化模型的研究现状 | 第20-23页 |
1.2.4 数据融合技术的研究现状 | 第23-25页 |
1.3 存在的问题及解决问题的思路 | 第25-27页 |
1.3.1 存在的问题 | 第25-26页 |
1.3.2 解决问题的思路 | 第26-27页 |
1.4 主要内容和创新点 | 第27-30页 |
1.4.1 主要内容和结构安排 | 第27-28页 |
1.4.2 论文创新点 | 第28-30页 |
第2章 相关理论基础 | 第30-49页 |
2.1 空间辐射效应 | 第30-41页 |
2.1.1 辐射损伤模式 | 第31-32页 |
2.1.2 单粒子效应 | 第32-33页 |
2.1.3 总剂量效应 | 第33-38页 |
2.1.4 位移损伤效应 | 第38-41页 |
2.2 辐射效应试验 | 第41-47页 |
2.2.1 地面模拟试验 | 第41-45页 |
2.2.2 数值模拟方法 | 第45-46页 |
2.2.3 抗辐射性能试验数据 | 第46-47页 |
2.3 抗辐射性能评估指标 | 第47-49页 |
2.3.1 总剂量效应 | 第47-48页 |
2.3.2 单粒子效应 | 第48-49页 |
第3章 基于概率分布模型的单元抗辐射性能研究 | 第49-67页 |
3.1 成败型模型 | 第50-52页 |
3.1.1 经典方法 | 第50页 |
3.1.2 Bayes方法 | 第50-51页 |
3.1.3 示例分析 | 第51-52页 |
3.2 Weibull分布 | 第52-60页 |
3.2.1 经典方法 | 第53-56页 |
3.2.2 Bayes方法 | 第56-58页 |
3.2.3 无失效数据情形 | 第58页 |
3.2.4 示例分析 | 第58-60页 |
3.3 对数正态分布模型 | 第60-65页 |
3.3.1 经典方法 | 第60-62页 |
3.3.2 Bayes方法 | 第62-65页 |
3.3.3 示例分析 | 第65页 |
3.4 本章小结 | 第65-67页 |
第4章 基于性能退化模型的单元抗辐射性能研究 | 第67-87页 |
4.1 退化轨道模型 | 第68-75页 |
4.1.1 模型定义 | 第68-69页 |
4.1.2 参数估计 | 第69-70页 |
4.1.3 示例分析 | 第70-75页 |
4.2 Wiener退化过程 | 第75-79页 |
4.2.1 模型定义 | 第75-76页 |
4.2.2 参数估计 | 第76-78页 |
4.2.3 示例分析 | 第78-79页 |
4.3 Gamma退化过程 | 第79-86页 |
4.3.1 模型定义 | 第79-81页 |
4.3.2 参数估计 | 第81-83页 |
4.3.3 示例分析 | 第83-86页 |
4.4 本章小结 | 第86-87页 |
第5章 基于数据融合技术的单元抗辐射性能研究 | 第87-99页 |
5.1 不同条件数据融合 | 第89-91页 |
5.2 不同类型数据融合 | 第91-93页 |
5.3 不同来源数据融合 | 第93-97页 |
5.3.1 相关函数 | 第93-94页 |
5.3.2 基于相关函数的数据融合方法 | 第94-96页 |
5.3.3 示例分析 | 第96-97页 |
5.4 本章小结 | 第97-99页 |
第6章 实例分析 | 第99-123页 |
6.1 功率MOS器件工作原理 | 第99-104页 |
6.1.1 基本原理 | 第99-100页 |
6.1.2 电参数模型 | 第100-104页 |
6.2 辐射损伤机理 | 第104-106页 |
6.3 抗辐射性能建模与评估 | 第106-123页 |
6.3.1 样本数据 | 第107-110页 |
6.3.2 性能退化模型建模及参数估计 | 第110-123页 |
结论 | 第123-125页 |
参考文献 | 第125-133页 |
致谢 | 第133-135页 |
附录A 攻读博士学位期间所发表的学术论文目录 | 第135-136页 |
附录B 攻读博士学位期间所参与的课题 | 第136页 |