摘要 | 第4-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 引言 | 第12-25页 |
1.1 研究背景及意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状 | 第13-23页 |
1.2.1 国外研究现状 | 第13-22页 |
1.2.2 国内研究现状 | 第22-23页 |
1.3 本文研究内容及特点 | 第23-25页 |
1.3.1 问题的提出及研究目标 | 第23页 |
1.3.2 研究内容 | 第23-24页 |
1.3.3 特点 | 第24-25页 |
第二章 中子引发概率与输运涨落 | 第25-51页 |
2.1 中子引发概率理论 | 第25-34页 |
2.1.1 中子引发概率方程(Bell方程) | 第26-29页 |
2.1.2 二阶近似定态系统下方程表达式 | 第29-30页 |
2.1.3 微扰处理求解中子引发概率 | 第30-32页 |
2.1.4 任意狄拉克源的引发概率 | 第32-34页 |
2.2 中子随机输运理论 | 第34-41页 |
2.2.1 概率平衡方程及推导式 | 第34-36页 |
2.2.2 二阶近似条件下的引发概率 | 第36-38页 |
2.2.3 脉冲源注入时的引发概率和中子数涨落 | 第38-39页 |
2.2.4 可靠引发时中子涨落与引发概率的关系 | 第39-41页 |
2.3 弱源条件下脉冲引发随机理论 | 第41-45页 |
2.3.1 弱源条件 | 第41-42页 |
2.3.2 引发时间的组成 | 第42页 |
2.3.3 第一条持续裂变链建立的时间t_1的分布P_(lst)(t_1) | 第42-43页 |
2.3.4 持续裂变链发展到n的时间t_2的分布P(n,t_2) | 第43-44页 |
2.3.5 引发时间P(n_0,t)的概率分布 | 第44-45页 |
2.4 两个因素的分析 | 第45-49页 |
2.4.1 二阶近似的影响 | 第45-47页 |
2.4.2 点模型的适用性 | 第47-49页 |
2.5 本章结论 | 第49-51页 |
第三章 CFBR-Ⅱ堆及脉冲实验技术 | 第51-82页 |
3.1 CFBR-Ⅱ堆简介 | 第51-52页 |
3.2 CFBR-Ⅱ堆主要参数 | 第52-59页 |
3.2.1 ~(235)U和~(238)U缓发中子参数 | 第52-53页 |
3.2.2 缓发临界时的瞬发中子衰减常数 | 第53-55页 |
3.2.3 缓发中子有效份额和中子代时间 | 第55-56页 |
3.2.4 控制棒反应性价值 | 第56-59页 |
3.3 自发裂变中子源强 | 第59-62页 |
3.3.1 自发裂变绝对源强 | 第59页 |
3.3.2 等效为基模源强 | 第59-62页 |
3.4 脉冲实验 | 第62-67页 |
3.4.1 脉冲实验流程 | 第62-64页 |
3.4.2 预加反应性与定向差 | 第64-65页 |
3.4.3 反应性不重复性 | 第65-66页 |
3.4.4 脉冲动力学 | 第66-67页 |
3.5 实验相关测试技术 | 第67-81页 |
3.5.1 脉冲棒加入时的系统反应性曲线 | 第68-70页 |
3.5.2 堆脉冲波形测量技术 | 第70-74页 |
3.5.3 定位触发技术 | 第74-75页 |
3.5.4 多路时间同步技术 | 第75-76页 |
3.5.5 外源测量技术 | 第76-77页 |
3.5.6 瞬态测量技术 | 第77-78页 |
3.5.7 时间同步关联 | 第78-79页 |
3.5.8 时间间隔测量技术 | 第79-81页 |
3.6 本章结论 | 第81-82页 |
第四章 点模型随机模拟算法及验证 | 第82-123页 |
4.1 引言 | 第82页 |
4.2 随机模拟算法 | 第82-90页 |
4.2.1 变量定义 | 第83-84页 |
4.2.2 算法思路 | 第84页 |
4.2.3 系统状态事件 | 第84-86页 |
4.2.4 自发裂变与缓发中子先驱核衰变 | 第86页 |
4.2.5 中子碰撞反应事件 | 第86-87页 |
4.2.6 瞬发裂变事件 | 第87-88页 |
4.2.7 裂变后缓发中子先驱核事件 | 第88页 |
4.2.8 随机数发生器 | 第88页 |
4.2.9 中子引发的判定 | 第88-90页 |
4.2.10 脉冲外源模型 | 第90页 |
4.3 程序使用的参数及流程 | 第90-92页 |
4.3.1 程序使用的参数 | 第90页 |
4.3.2 程序流程 | 第90-92页 |
4.4 模型计算验证 | 第92-95页 |
4.4.1 球形高浓铀模型 | 第92页 |
4.4.2 点模型模拟结果 | 第92-95页 |
4.5 Godiva-Ⅱ堆实验及模拟 | 第95-107页 |
4.5.1 Godiva-Ⅱ堆及自发裂变源引发实验 | 第95-99页 |
4.5.2 与文献38模拟结果的比较 | 第99-101页 |
4.5.3 原始文献2数据下的模拟结果 | 第101-104页 |
4.5.4 缓发中子强度随时间的变化 | 第104-107页 |
4.6 Caliban堆实验及模拟 | 第107-121页 |
4.6.1 Caliban堆及自发裂变源引发实验 | 第107-110页 |
4.6.2 与文献37模拟计算结果的比较 | 第110-113页 |
4.6.3 文献17条件下模拟结果 | 第113-117页 |
4.6.4 缓发中子强度随时间的变化 | 第117-121页 |
4.7 本章小结 | 第121-123页 |
第五章 CFBR-Ⅱ内源脉冲实验及分析 | 第123-143页 |
5.1 引言 | 第123页 |
5.2 实验条件及结果 | 第123-129页 |
5.2.1 实验条件 | 第123-124页 |
5.2.2 内源等效源强 | 第124-126页 |
5.2.3 实验结果 | 第126-129页 |
5.3 模拟计算与分析 | 第129-141页 |
5.3.1 与文献38模拟结果的比较 | 第129-132页 |
5.3.2 实验条件的影响分析 | 第132-135页 |
5.3.3 缓发源强的变化及引发时间方程解析解 | 第135-141页 |
5.4 本章结论 | 第141-143页 |
第六章 中子引发概率的直接验证及分析 | 第143-179页 |
6.1 引言 | 第143页 |
6.2 实验基本原理 | 第143-147页 |
6.2.1 引发概率实验的统计学原理 | 第143-144页 |
6.2.2 脉冲源的引发概率与源强的关系 | 第144-145页 |
6.2.3 单次实验的伯努利试验特性 | 第145-147页 |
6.2.4 小结 | 第147页 |
6.3 外源等效系数及CFBR-Ⅱ堆修正因子的计算 | 第147-151页 |
6.3.1 外源的立体角系数和基模等效系数 | 第147-148页 |
6.3.2 CFBR-Ⅱ堆修正因子的计算 | 第148-151页 |
6.4 实验状态及结果 | 第151-159页 |
6.4.1 实验布局 | 第151-152页 |
6.4.2 实验条件 | 第152-153页 |
6.4.3 水平布局实验结果 | 第153-155页 |
6.4.4 斜上布局首次验证实验结果 | 第155-159页 |
6.5 环境散反射中子的评估 | 第159-166页 |
6.5.1 模型和计算条件 | 第159-161页 |
6.5.2 散反射入堆中子的份额 | 第161-162页 |
6.5.3 散反射入堆中子等效系数 | 第162-165页 |
6.5.4 散反射入堆中子对实验结果的影响 | 第165-166页 |
6.6 不确定度分析 | 第166-169页 |
6.6.1 理论计算结果的不确定度分析 | 第166-167页 |
6.6.2 实验结果的不确定度分析 | 第167-169页 |
6.7 斜上布局引发概率的再验证实验 | 第169-172页 |
6.8 随机模拟计算分析 | 第172-176页 |
6.8.1 反应性采用均值、外源强度涨落条件下模拟结果 | 第172-175页 |
6.8.2 反应性和外源强度均涨落条件下模拟结果 | 第175-176页 |
6.9 实验结果、理论结果和模拟计算结果的比较 | 第176-177页 |
6.10 本章结论 | 第177-179页 |
第七章 次临界外脉冲源脉冲引发实验及分析 | 第179-200页 |
7.1 引言 | 第179页 |
7.2 实验方法与技术 | 第179-183页 |
7.2.1 实验方法 | 第179-180页 |
7.2.2 实验布局 | 第180-181页 |
7.2.3 正式实验条件 | 第181页 |
7.2.4 零时刻反应性测量 | 第181-182页 |
7.2.5 零时刻至内限的反应性曲线 | 第182-183页 |
7.3 预备和摸底实验 | 第183-187页 |
7.3.1 预备实验 | 第183-184页 |
7.3.2 摸底实验 | 第184-187页 |
7.4 正式实验及结果 | 第187-194页 |
7.4.1 典型图像和测量统计结果 | 第187-188页 |
7.4.2 输入目标量的分布 | 第188-190页 |
7.4.3 输出目标量的分布 | 第190-192页 |
7.4.4 阶跃功率 | 第192-194页 |
7.5 点模型随机模拟 | 第194-198页 |
7.5.1 模拟参数及结果 | 第194-196页 |
7.5.2 缓发源强变化及引发时间方程结果 | 第196-198页 |
7.6 本章结论 | 第198-200页 |
第八章 总结 | 第200-203页 |
8.1 论文工作总结 | 第200-202页 |
8.1.1 研究工作总结 | 第200-201页 |
8.1.2 结论 | 第201-202页 |
8.2 关键技术及创新 | 第202页 |
8.3 下一步工作 | 第202-203页 |
致谢 | 第203-204页 |
参考文献 | 第204-209页 |
攻读博士期间发表的论文情况 | 第209页 |