多缺陷和多线程缺陷定位技术研究
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第10-16页 |
| 1.1 论文的研究背景和意义 | 第10-12页 |
| 1.2 论文的研究内容 | 第12-13页 |
| 1.3 论文的组织结构 | 第13-14页 |
| 1.4 论文研究成果 | 第14-16页 |
| 第二章 缺陷定位技术概述 | 第16-26页 |
| 2.1 引言 | 第16页 |
| 2.2 缺陷定位技术的研究现状 | 第16-21页 |
| 2.2.1 基于程序切片的方法 | 第17页 |
| 2.2.2 基于程序谱的方法 | 第17-18页 |
| 2.2.3 基于程序状态的方法 | 第18-19页 |
| 2.2.4 基于机器学习的方法 | 第19页 |
| 2.2.5 基于数据挖掘的方法 | 第19-20页 |
| 2.2.6 基于模型的方法 | 第20页 |
| 2.2.7 交互式缺陷定位方法 | 第20页 |
| 2.2.8 国内的研究现状 | 第20-21页 |
| 2.3 多缺陷定位技术的研究现状 | 第21-23页 |
| 2.4 缺陷定位发展的瓶颈 | 第23-25页 |
| 2.4.1 面临的挑战 | 第23-24页 |
| 2.4.2 存在的问题 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 多缺陷定位技术的框架 | 第26-36页 |
| 3.1 引言 | 第26页 |
| 3.2 技术框架 | 第26-28页 |
| 3.3 模糊聚类分析 | 第28-32页 |
| 3.3.1 基本概念 | 第28-29页 |
| 3.3.2 重要结论 | 第29页 |
| 3.3.3 模糊聚类分析的实例 | 第29-32页 |
| 3.4 基于信息检索的缺陷定位 | 第32-34页 |
| 3.4.1 基于信息检索的缺陷定位 | 第32页 |
| 3.4.2 信息检索的模型 | 第32-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 错误报告和程序源代码关联性研究 | 第36-46页 |
| 4.1 引言 | 第36页 |
| 4.2 错误报告背景知识 | 第36-39页 |
| 4.3 错误报告的相似性分析和聚类分析 | 第39-41页 |
| 4.3.1 相似性分析 | 第39-40页 |
| 4.3.2 聚类分析 | 第40-41页 |
| 4.4 错误报告和程序源代码的关联性分析 | 第41-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-46页 |
| 第五章 多线程程序中并发程序错误的研究 | 第46-56页 |
| 5.1 引言 | 第46-47页 |
| 5.2 BIFER的处理过程 | 第47-53页 |
| 5.2.1 过滤踪迹冗余 | 第48-51页 |
| 5.2.2 过滤踪迹残留 | 第51-53页 |
| 5.3 实验设计与结果分析 | 第53-55页 |
| 5.3.1 实验设计 | 第53-54页 |
| 5.3.2 结果分析 | 第54-55页 |
| 5.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第六章 结论与展望 | 第56-58页 |
| 6.1 工作总结 | 第56页 |
| 6.2 不足和未来的工作 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-60页 |
| 参考文献 | 第60-66页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第66页 |
