| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-9页 |
| 1 绪论 | 第9-22页 |
| ·研究背景 | 第9页 |
| ·光腔衰荡技术概述 | 第9-10页 |
| ·光腔衰荡技术原理 | 第10-11页 |
| ·光腔衰荡技术分类 | 第11-16页 |
| ·脉冲光腔衰荡技术 | 第12页 |
| ·相移光腔衰荡技术 | 第12-13页 |
| ·连续光腔衰荡技术 | 第13页 |
| ·光反馈光腔衰荡技术 | 第13-16页 |
| ·反射率测量方法概述 | 第16-20页 |
| ·分光光度法 | 第16-17页 |
| ·反射比率法 | 第17-19页 |
| ·高反射率测量方法的研究现状 | 第19-20页 |
| ·本论文研究内容 | 第20-22页 |
| 2 反射率综合测量方法研究 | 第22-32页 |
| ·引言 | 第22页 |
| ·反射率综合测量方法提出的背景 | 第22-25页 |
| ·反射率综合测量方法的实验装置及原理 | 第25-28页 |
| ·实验结果及讨论 | 第28-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 3 基于半导体光反馈光腔衰荡技术的偏振反射率测量研究 | 第32-42页 |
| ·引言 | 第32-33页 |
| ·偏振现象的发现 | 第32页 |
| ·偏振光的分类 | 第32-33页 |
| ·研究偏振光腔衰荡高反射率测量技术的意义 | 第33-34页 |
| ·线偏振光经过四腔镜折叠腔的透射函数 | 第34-37页 |
| ·实验及结果分析 | 第37-41页 |
| ·本章小结 | 第41-42页 |
| 4 光反馈光腔衰荡技术中的信号优化、吸收样品失调、腔外反馈等问题的理论分析 | 第42-58页 |
| ·引言 | 第42页 |
| ·谐振腔输出信号的优化分析 | 第42-48页 |
| ·腔镜不同反射率对信号大小的影响 | 第42-46页 |
| ·腔镜反射率对耦合效率影响的推导 | 第46-48页 |
| ·直腔法测量固体样品吸收损耗时样品光学失调对实验结果的影响 | 第48-55页 |
| ·波动光学传递矩阵分析 | 第48-53页 |
| ·几何光学传递矩阵分析 | 第53-55页 |
| ·腔外反馈光的应用设计 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 5 总结与展望 | 第58-61页 |
| ·论文主要工作 | 第58-59页 |
| ·论文创新点 | 第59页 |
| ·对后续工作的建议 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-69页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第69页 |
