| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-8页 |
| 第一章 引言 | 第8-11页 |
| ·研究目的 | 第8页 |
| ·研究意义 | 第8-9页 |
| ·主要研究工作与创新点 | 第9页 |
| ·目前研究热点 | 第9-11页 |
| 第二章 ADC结构和性能分析 | 第11-26页 |
| ·ADC性能参数定义 | 第11-13页 |
| ·ADC静态参数 | 第11页 |
| ·ADC动态参数 | 第11-13页 |
| ·ADC其他重要参数 | 第13页 |
| ·各种ADC结构分析 | 第13-20页 |
| ·并行ADC | 第13-14页 |
| ·Pipelined ADC | 第14-15页 |
| ·逐次逼近(Successive Approximation)ADC | 第15页 |
| ·算术(或循环) ADC | 第15-16页 |
| ·时间分解(Interleaved)ADC | 第16-17页 |
| ·过采样(Oversampled)ADC | 第17-19页 |
| ·各种ADC性能比较 | 第19-20页 |
| ·高速并行ADC体系分析 | 第20-24页 |
| ·Flash型ADC | 第20-21页 |
| ·两级Flash型ADC | 第21-22页 |
| ·折叠插值ADC | 第22-23页 |
| ·并行ADC性能对比 | 第23-24页 |
| ·高速并行ADC设计难点分析 | 第24-26页 |
| 第三章 折叠插值ADC预处理器原理及设计 | 第26-40页 |
| ·折叠插值ADC工作原理 | 第26-30页 |
| ·信号折叠原理 | 第26-28页 |
| ·插值(Interpolation)原理 | 第28-30页 |
| ·电流模折叠插值技术 | 第30-32页 |
| ·平均技术 | 第32-34页 |
| ·同步校正 | 第34-35页 |
| ·信号预处理器速度、功耗、面积之间的折衷关系 | 第35-40页 |
| 第四章 并于ADC关键电路设计 | 第40-84页 |
| ·采样保持电路设计及优化 | 第40-58页 |
| ·采样原理 | 第40-42页 |
| ·CMOS采样保持电路概述及相关参数 | 第42-45页 |
| ·CMOS采样保持电路理论分析 | 第45-48页 |
| ·差分采样保持电路及误差补偿电路 | 第48-51页 |
| ·差分采样保持及误差补偿的电路实现 | 第51-53页 |
| ·主从式采样保持电路 | 第53-56页 |
| ·差分采样仿真 | 第56-58页 |
| ·带从采样的折叠器仿真 | 第58页 |
| ·比较器设计 | 第58-70页 |
| ·各种比较器对比 | 第59-63页 |
| ·再生型比较器的理论分析 | 第63-67页 |
| ·改进的再生型比较器和抗噪声锁存器 | 第67-70页 |
| ·编码器设计 | 第70-82页 |
| ·编码器结构 | 第70-72页 |
| ·误码产生原因 | 第72页 |
| ·误码与误码校正 | 第72-77页 |
| ·动态编码器 | 第77-81页 |
| ·性能分析 | 第81-82页 |
| ·折叠插值Fine ADC模拟部分仿真结果 | 第82-84页 |
| 第五章 电流模电路分析 | 第84-88页 |
| ·电流模电路 | 第84-88页 |
| ·CMOS电流模电路概述 | 第84页 |
| ·CMOS电流模ADC设计 | 第84-86页 |
| ·电流模电路优缺点分析 | 第86-88页 |
| 第六章 结论 | 第88-89页 |
| 参考文献 | 第89-91页 |
| 申请学位期间的研究成果及发表的学术论文 | 第91-92页 |
| 致谢 | 第92页 |