FPGA CAD后端流程研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第1章 引言 | 第8-13页 |
| ·FPGA简介 | 第8页 |
| ·FPGA硬件体系结构 | 第8-10页 |
| ·FPGA CAD软件系统 | 第10-11页 |
| ·工作重点 | 第11-12页 |
| ·论文组织 | 第12-13页 |
| 第2章 统一后端流程框架 | 第13-24页 |
| ·后端流程面临的难点 | 第13页 |
| ·主体流程部分 | 第13-22页 |
| ·框架结构 | 第13-14页 |
| ·FPGA芯片硬件结构描述库 | 第14-20页 |
| ·共享布线资源图 | 第20页 |
| ·共享时序引擎 | 第20-22页 |
| ·扩展流程部分 | 第22-24页 |
| 第3章 FPGA布局算法 | 第24-34页 |
| ·布局问题描述 | 第24-26页 |
| ·布局算法面临的难点 | 第26-28页 |
| ·支持异质结构的布局算法 | 第28-34页 |
| ·逻辑单元抽象建模 | 第28-30页 |
| ·进位链布局 | 第30-33页 |
| ·算法流程 | 第33-34页 |
| 第4章 FPGA布线算法 | 第34-48页 |
| ·布线问题描述 | 第34-37页 |
| ·布线资源图 | 第37-48页 |
| ·布线资源图定义 | 第37-38页 |
| ·布线资源图面临的难点 | 第38页 |
| ·布线资源图构建 | 第38-46页 |
| ·时序驱动后端流程实验结果 | 第46-48页 |
| 第5章 FPGA抗辐射性能模拟 | 第48-59页 |
| ·单粒子翻转问题描述 | 第48-49页 |
| ·抗辐射性能模拟的研究现状 | 第49页 |
| ·错误注入系统 | 第49-59页 |
| ·错误注入模型 | 第49-52页 |
| ·错误注入硬件平台 | 第52-53页 |
| ·错误注入软件流程 | 第53-54页 |
| ·实验结果 | 第54-59页 |
| 第6章 总结与展望 | 第59-61页 |
| ·本文主要贡献 | 第59-60页 |
| ·未来研究工作 | 第60-61页 |
| 参考文献 | 第61-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录 攻读硕士期间科研工作 | 第64-65页 |
