AC-PDP寻址驱动芯片的研究和设计
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-13页 |
| §1.1 课题的背景 | 第8页 |
| §1.2 PDP技术发展的历程及现状 | 第8-9页 |
| §1.2.1 PDP技术的发展历程 | 第8-9页 |
| §1.2.2 国内外PDP技术发展的现状 | 第9页 |
| §1.3 PDP与CRT、LCD的对比 | 第9-11页 |
| §1.4 PDP今后发展的方向 | 第11-12页 |
| §1.5 本课题研究的对象和意义 | 第12-13页 |
| 第二章 PDP的工作原理 | 第13-25页 |
| §2.1 彩色等离子显示器的分类 | 第13-14页 |
| §2.2 表面放电型AC-PDP的工作过程 | 第14-19页 |
| §2.3 八子场灰度显示原理 | 第19-21页 |
| §2.4 彩色AC-PDP的系统结构 | 第21-25页 |
| 第三章 PDP寻址驱动芯片的设计 | 第25-45页 |
| §3.1 芯片STV7610A简介 | 第25-27页 |
| §3.2 芯片STV7610A工作原理 | 第27-28页 |
| §3.3 数字电路的设计 | 第28-43页 |
| §3.3.1 D触发器的设计 | 第28-31页 |
| §3.3.2 16位移位寄存锁存器电路 | 第31-33页 |
| §3.3.3 锁存器 | 第33-34页 |
| §3.3.4 16位移位寄存锁存电路 | 第34-36页 |
| §3.3.5 管脚电路 | 第36-41页 |
| §3.3.6 多路输出电路 | 第41-42页 |
| §3.3.7 数字电路的全电路分析 | 第42-43页 |
| §3.4 高压电平转换电路 | 第43-45页 |
| 第四章 高压器件的设计 | 第45-60页 |
| §4.1 功率器件的设计 | 第45-60页 |
| §4.1.1 VDMOS的设计 | 第45-46页 |
| §4.1.2 VDMOS具体参数的设计 | 第46-48页 |
| §4.1.3 对HV-PMOS的设计 | 第48-52页 |
| §4.1.4 对其他远器件的设计 | 第52-60页 |
| 第五章 版图的设计和物理的实现 | 第60-70页 |
| §5.1 电路版图的设计 | 第60-64页 |
| §5.1.1 数字部分版图的绘制 | 第60-62页 |
| §5.1.2 高压器件版图的绘制 | 第62-64页 |
| §5.2 整体版图的绘制和测试电路的截取 | 第64-67页 |
| §5.3 工艺流程的介绍 | 第67-70页 |
| 第六章 芯片的测试和结果的分析 | 第70-87页 |
| §6.1 测试方法总体介绍 | 第70页 |
| §6.2 测试结果的分析 | 第70-79页 |
| §6.2.1 对各管子Vto的测试 | 第71-73页 |
| §6.2.2 对各管子耐压性能的测试 | 第73-76页 |
| §6.2.3 对各管子I-V特性的测试 | 第76-79页 |
| §6.3 管子测试结果的小结 | 第79-81页 |
| §6.4 测试电路测试方案研究 | 第81-87页 |
| §6.4.1 测试方案的确定和测试电路的生成 | 第83-87页 |
| 回顾与展望 | 第87-89页 |
| 参考文献 | 第89-91页 |
| 致谢 | 第91页 |
