用于CMOS图像传感器的像素级模/数转换器的研究
| 中文摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·前言 | 第7-8页 |
| ·CMOS 图像传感器的发展 | 第8-9页 |
| ·ADC 在CMOS 图像传感器上的集成 | 第9-11页 |
| ·选题意义与论文内容安排 | 第11-13页 |
| 第二章 像素级ADC 的设计原理及模块划分 | 第13-34页 |
| ·ADC 的基本原理 | 第13-17页 |
| ·采样定理 | 第14-15页 |
| ·量化编码 | 第15-17页 |
| ·ADC 的主要性能参数 | 第17-22页 |
| ·几种常用ADC 的介绍 | 第22-27页 |
| ·像素级ADC 的设计原理 | 第27-32页 |
| ·像素级ADC 的设计性能指标 | 第32-34页 |
| 第三章 像素级ADC 具体模块设计及电路实现 | 第34-57页 |
| ·像素原理及其电路设计 | 第34-41页 |
| ·半导体的光电效应 | 第35-38页 |
| ·像素的电路设计 | 第38-40页 |
| ·像素CMOS 图像传感器发展限制 | 第40-41页 |
| ·比较器的电路设计 | 第41-46页 |
| ·MOS 管的亚阈值区特性 | 第41-43页 |
| ·比较器电路结构的设计 | 第43-46页 |
| ·锁存器的电路设计 | 第46-47页 |
| ·斜坡发生器的设计 | 第47-52页 |
| ·整体结构及工作原理 | 第47-48页 |
| ·具体电路设计 | 第48-50页 |
| ·斜坡发生的特点 | 第50-52页 |
| ·ADC 整体电路的设计 | 第52-57页 |
| ·模拟模块的设计 | 第52-54页 |
| ·数字控制模块的设计 | 第54-57页 |
| 第四章 像素级ADC 的电路仿真验证 | 第57-72页 |
| ·像素电路的仿真验证 | 第57-59页 |
| ·比较器的仿真验证 | 第59-64页 |
| ·比较器仿真注意问题 | 第59-61页 |
| ·比较器仿真结果 | 第61-64页 |
| ·锁存器的仿真验证 | 第64-66页 |
| ·斜坡发生的仿真验证 | 第66-69页 |
| ·数字模块及ADC 系统的仿真验证 | 第69-72页 |
| 第五章 像素级ADC 版图设计与验证 | 第72-78页 |
| ·设计规则（Design Rules） | 第72-73页 |
| ·基本模块版图设计 | 第73-75页 |
| ·像素级ADC 的版图设计 | 第75-76页 |
| ·版图验证 | 第76-78页 |
| 总结 | 第78-80页 |
| 参考文献 | 第80-82页 |
| 发表论文和参加科研情况 | 第82-83页 |
| 一.发表论文: | 第82页 |
| 二.参加科研情况: | 第82-83页 |
| 附录一：亚阈值区PMOS 管的工作特性 | 第83-85页 |
| 附录二：斜坡发生里跟随器的阶跃响应 | 第85-87页 |
| 附录三：像素级ADC 的控制信号及系统仿真 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91页 |
