| 1 绪论 | 第1-18页 |
| 1．1 自动控制发展趋势 | 第8-16页 |
| 1．1．1 以工业 PC为基础的低成本工业控制自动化将成为主流 | 第8-9页 |
| 1．1．2 PLC在向微型化、网络化、PC化和开放性方向发展 | 第9-10页 |
| 1．1．3 面向测控管一体化设计的DCS系统 | 第10-11页 |
| 1．1．4 控制系统正在向现场总线(FCS)方向发展 | 第11-12页 |
| 1．1．5 仪器仪表技术在向数字化、智能化、网络化、微型化方向发展 | 第12-13页 |
| 1．1．6 数控技术向智能化、开放性、网络化、信息化发展 | 第13-14页 |
| 1．1．7 工业控制网络将向有线和无线相结合方向发展 | 第14-15页 |
| 1．1．8 工业控制软件正向先进控制方向发展 | 第15-16页 |
| 1．2 设备测试和仿真系统建设背景 | 第16-18页 |
| 2 设备测试和仿真系统中的关键技术 | 第18-43页 |
| 2．1 总线技术 | 第18-24页 |
| 2．1．1 总线的产生 | 第18页 |
| 2．1．2 现场总线的定义及其标准 | 第18-19页 |
| 2．1．3 现场总线技术的特点 | 第19-20页 |
| 2．1．4 当前流行的几类现场总线 | 第20-23页 |
| 2．1．5 对现场总线的理性认识 | 第23-24页 |
| 2．2 PLC技术 | 第24-28页 |
| 2．2．1 可编程控制器的定义 | 第24-25页 |
| 2．2．2 PLC的特点 | 第25-26页 |
| 2．2．3 PLC的应用领域 | 第26-27页 |
| 2．2．4 PLC的国内外状况 | 第27-28页 |
| 2．2．5 PLC未来展望 | 第28页 |
| 2．3 Modbus通讯协议介绍 | 第28-36页 |
| 2．3．1 Modbus协议简介 | 第28-30页 |
| 2．3．2 LRC校验 | 第30页 |
| 2．3．3 CRC校验 | 第30-36页 |
| 2．4 自动控制组态软件应用 | 第36-43页 |
| 2．4．1 组态软件产生的背景 | 第36-37页 |
| 2．4．2 组态软件在我国的发展及国内外主要产品介绍 | 第37-39页 |
| 2．4．3 组态软件的功能特点发展方向 | 第39-43页 |
| 3 设备测试和系统仿真需求概述 | 第43-45页 |
| 3．1 公司业务现实需求 | 第43页 |
| 3．2 软、硬件需求 | 第43-44页 |
| 3．3 时间特性需求 | 第44页 |
| 3．4 数据需求 | 第44页 |
| 3．5 可靠性需求 | 第44页 |
| 3．6 安全性需求 | 第44-45页 |
| 4 设备测试和仿真系统的设计 | 第45-54页 |
| 4．1 系统设计原则 | 第45页 |
| 4．1．1 安全可靠原则 | 第45页 |
| 4．1．2 便于操作维护原则 | 第45页 |
| 4．1．3 先进性原则 | 第45页 |
| 4．2 系统总体设计 | 第45-48页 |
| 4．2．1 功能模块设计及网络拓朴 | 第46-47页 |
| 4．2．2 对计算机的通讯设计 | 第47页 |
| 4．2．3 对上位机的点数要求 | 第47页 |
| 4．2．4 上位机采集数据要求 | 第47页 |
| 4．2．5 历史记录 | 第47-48页 |
| 4．2．6 报警 | 第48页 |
| 4．2．7 控制与调节 | 第48页 |
| 4．2．8 参数设置 | 第48页 |
| 4．2．9 数据库设计 | 第48页 |
| 4．3 渗漏排水系统控制单元子系统设计 | 第48-54页 |
| 4．3．1 渗漏排水系统结构图 | 第48-49页 |
| 4．3．2 控制对象 | 第49页 |
| 4．3．3 相关检测信号 | 第49-50页 |
| 4．3．4 控制功能 | 第50页 |
| 4．3．5 I/O接点表 | 第50-52页 |
| 4．3．6 功能模块 | 第52-53页 |
| 4．3．7 画面设计 | 第53-54页 |
| 5 设备测试和仿真系统的实现 | 第54-62页 |
| 5．1 系统开发 | 第54-58页 |
| 5．1．1 软、硬件选型 | 第54页 |
| 5．1．2 数据字典 | 第54-56页 |
| 5．1．3 功能实现及测试 | 第56-58页 |
| 5．2 系统部份页面 | 第58-62页 |
| 6 设备测试和仿真系统的展望 | 第62-63页 |
| 结束语 | 第63-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 声明 | 第66-67页 |
| 致谢 | 第67页 |
