基于SOC架构的可测性设计方法学研究
| 第一章 引言 | 第1-20页 |
| 1．1 测试方法学研究的意义 | 第10页 |
| 1．2 集成电路测试方法学的发展历史和现状 | 第10-18页 |
| 1．2．1 可测性设计方法概述 | 第11-12页 |
| 1．2．2 可测性设计方法的发展历程 | 第12-15页 |
| 1．2．3 可测性设计的需求分析 | 第15-18页 |
| 1．3 论文工作的主要内容和安排 | 第18-20页 |
| 第二章 扫描设计方法的研究 | 第20-32页 |
| 2．1 扫描设计与非扫描设计的分析比较 | 第20-23页 |
| 2．1．1 对设计迭代的影响 | 第21-22页 |
| 2．1．2 对测试向量的影响 | 第22页 |
| 2．1．3 对测试过程的影响 | 第22-23页 |
| 2．2 扫描设计概述 | 第23-26页 |
| 2．2．1 扫描方法的基本概念 | 第23-24页 |
| 2．2．2 扫描设计的基本类型 | 第24-25页 |
| 2．2．3 扫描设计的代价分析 | 第25-26页 |
| 2．3 扫描设计面临的挑战与机遇 | 第26-31页 |
| 2．3．1 SOC的发展所带来的挑战 | 第26-27页 |
| 2．3．1．1 可测性设计的收敛性 | 第26-27页 |
| 2．3．1．2 测试成本控制 | 第27页 |
| 2．3．2 扫描设计在SOC应用中的优势与不足 | 第27-31页 |
| 2．3．2．1 设计收敛性 | 第27-29页 |
| 2．3．2．2 成本控制 | 第29页 |
| 2．3．2．3 有待优化的方面 | 第29-31页 |
| 2．4 小结 | 第31-32页 |
| 第三章 测试功耗解决方案 | 第32-57页 |
| 3．1 功耗分析 | 第32-36页 |
| 3．1．1 CMOS数字集成电路功耗原理 | 第32-33页 |
| 3．1．2 测试功耗机理分析 | 第33-35页 |
| 3．1．3 现有的低测试功耗方法 | 第35-36页 |
| 3．2 位通过率法 | 第36-38页 |
| 3．3 可行性分析 | 第38-41页 |
| 3．3．1 传统扫描设计的位通过率分析 | 第38页 |
| 3．3．2 降低位通过率的方案选择 | 第38-41页 |
| 3．4 测试功耗解决方案——扫描阵列 | 第41-46页 |
| 3．4．1 结构说明 | 第41-42页 |
| 3．4．2 工作方式 | 第42-43页 |
| 3．4．3 硬件设计 | 第43-44页 |
| 3．4．3．1 设计特点 | 第43页 |
| 3．4．3．2 代价分析 | 第43-44页 |
| 3．4．4 性能评估 | 第44-46页 |
| 3．4．4．1 RBP算法测试功耗评估 | 第44-46页 |
| 3．4．4．2 时钟树功耗分析 | 第46页 |
| 3．5 实验与结果分析 | 第46-55页 |
| 3．5．1 实验方法 | 第47-50页 |
| 3．5．2 实验结果分析 | 第50-55页 |
| 3．6 小结 | 第55-57页 |
| 第四章 伪内建自测试 | 第57-73页 |
| 4．1 测试成本优化 | 第57-58页 |
| 4．2 内建自测试的基本概念 | 第58-63页 |
| 4．2．1 基本结构 | 第58-61页 |
| 4．2．2 效率和性能分析 | 第61-63页 |
| 4．2．2．1 性能优势 | 第61-62页 |
| 4．2．2．2 故障覆盖率 | 第62-63页 |
| 4．2．2．3 代价分析 | 第63页 |
| 4．3 伪内建自测试——PBIST | 第63-72页 |
| 4．3．1 基本思路 | 第64页 |
| 4．3．2 设计与分析 | 第64-67页 |
| 4．3．2．1 硬件设计 | 第64-66页 |
| 4．3．2．2 故障覆盖率分析 | 第66-67页 |
| 4．3．3 实验结果分析 | 第67-72页 |
| 4．3．3．1 故障覆盖率 | 第68-69页 |
| 4．3．3．2 测试时间 | 第69-72页 |
| 4．4 小结 | 第72-73页 |
| 第五章 测试数据压缩 | 第73-99页 |
| 5．1 测试数据压缩的意思 | 第73-74页 |
| 5．2 测试数据压缩方法概述 | 第74-77页 |
| 5．2．1 基本结构 | 第74页 |
| 5．2．2 基本要求 | 第74-75页 |
| 5．2．3 基本类型 | 第75-77页 |
| 5．2．3．1 数学机理分类 | 第75页 |
| 5．2．3．2 压缩对象分类 | 第75-77页 |
| 5．2．3．3 编码特征分类 | 第77页 |
| 5．3 典型测试数据压缩算法分析 | 第77-82页 |
| 5．3．1 统计编码 | 第77-79页 |
| 5．3．2 游程编码 | 第79-82页 |
| 5．3．2．1 传统游程编码 | 第79-80页 |
| 5．3．2．2 Golomb编码 | 第80-82页 |
| 5．4 变长不等间距的SAC算法 | 第82-97页 |
| 5．4．1 测试向量特征分析 | 第82-84页 |
| 5．4．2 编码算法 | 第84-88页 |
| 5．4．2．1 算法基本元素 | 第84-86页 |
| 5．4．2．2 基本编码结构 | 第86-88页 |
| 5．4．3 整数线性规划分析 | 第88-91页 |
| 5．4．3．1 数学模型 | 第88-89页 |
| 5．4．3．2 计算与分析 | 第89-91页 |
| 5．4．4 硬件实现 | 第91-95页 |
| 5．4．4．1 解码单元框架 | 第92页 |
| 5．4．4．2 操作实例 | 第92-94页 |
| 5．4．4．3 应用分析 | 第94-95页 |
| 5．4．5 实验结果比较 | 第95-97页 |
| 5．5 小结 | 第97-99页 |
| 第六章 总结 | 第99-103页 |
| 6．1 论文工作总结 | 第99-101页 |
| 6．2 进一步研究的方向 | 第101-103页 |
| 参考文献 | 第103-109页 |
| 致谢 | 第109-110页 |
| 个人简历、在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第110-111页 |
