摘要 | 第1-3页 |
ABSTRACT | 第3-5页 |
目录 | 第5-8页 |
第1章 绪论 | 第8-15页 |
·论文的选题背景及意义 | 第8-10页 |
·色度计和分光光度计在测试纹理样本时的局限性 | 第8页 |
·多光谱成像系统及其聚焦模糊的问题 | 第8-9页 |
·图像色差评估 | 第9-10页 |
·研究现状 | 第10-13页 |
·光谱反射率的重建 | 第10-11页 |
·图像处理中的增强和复原技术 | 第11-12页 |
·纹理织物对色差的影响 | 第12-13页 |
·论文的主要工作及内容安排 | 第13-14页 |
·论文创新点 | 第14-15页 |
第2章 色度学理论回顾 | 第15-29页 |
·颜色的心理属性 | 第16-18页 |
·CIE颜色确定系统 | 第18-22页 |
·光源的能量分布和CIE标准光源 | 第18-20页 |
·CIE标准观察物体 | 第20页 |
·CIE标准观察者 | 第20-22页 |
·均匀颜色空间和色差 | 第22-26页 |
·CIEL~*a~*b~*颜色空间 | 第22-23页 |
·CIELAB色差公式 | 第23-24页 |
·CMC(l∶c)色差公式 | 第24-25页 |
·CIE94芭差公式 | 第25页 |
·CIEDE2000色差公式 | 第25页 |
·色差单位 | 第25-26页 |
·颜色测试器件 | 第26-29页 |
·同色异谱 | 第26-27页 |
·分光光度计和频谱辐射度计 | 第27页 |
·多光谱成像系统 | 第27-29页 |
第3章 光谱反射率的重建 | 第29-45页 |
·多光谱成像系统模型 | 第29-30页 |
·光谱反射率重建方法 | 第30-34页 |
·违逆的方法 | 第30页 |
·已知光谱反射率的违逆方法 | 第30-31页 |
·主成分分析的方法 | 第31-32页 |
·维纳估计的方法 | 第32-33页 |
·本文建议的自适应维纳估计方法 | 第33-34页 |
·光谱敏感度函数估计实验 | 第34-39页 |
·CCD相机光强和暗电流补偿 | 第34-35页 |
·均方误差和相对均方误差 | 第35页 |
·实验中色卡响应和反射率的求取 | 第35-37页 |
·实验用光谱响应度函数的估计 | 第37-39页 |
·本文建议的自适应维纳估计方法求光谱反射率 | 第39-45页 |
·模拟数据部分 | 第40-43页 |
·实际数据部分 | 第43-44页 |
·结论 | 第44-45页 |
第4章 基于改进UNSHARP MASK的多光谱模糊图像恢复 | 第45-58页 |
·灰度变换的图像增强方法 | 第45-46页 |
·线性灰度变换 | 第45页 |
·分段线性灰度变换 | 第45-46页 |
·非分段线性灰度指数 | 第46页 |
·OUM的图像增强方法 | 第46-47页 |
·图像退化模型和维纳滤波图像复原方法 | 第47-49页 |
·图像的退化模型 | 第47页 |
·维纳滤波图像复原方法 | 第47-49页 |
·图像质量的评价 | 第49页 |
·本文推荐的改进UNSHARP MASK方法 | 第49-58页 |
·图像对准 | 第50页 |
·算法描述 | 第50-52页 |
·参数的选取 | 第52-54页 |
·实验结果与讨论 | 第54-57页 |
·结论 | 第57-58页 |
第5章 纹理色差估计 | 第58-75页 |
·纹理及纹理特征的定义 | 第58页 |
·SAS软件 | 第58-60页 |
·共生矩阵方法提取纹理特征 | 第60-62页 |
·物理颜色样本的备制及视觉色差实验 | 第62-66页 |
·样本材料 | 第62页 |
·使用GOG模型进行CRT色度校正 | 第62-63页 |
·灰卡方法的视觉色差评估 | 第63-66页 |
·纹理特征与视觉色差的定性分析 | 第66-67页 |
·同一颜色中心纹理图像在不同差值等级的色差分析 | 第66-67页 |
·不同颜色纹理图像在同一差值等级的色差分析 | 第67页 |
·SAS软件实现纹理特征变量与色差关系的建模 | 第67-75页 |
·不同明度纹理图像对的主成分分析 | 第68-71页 |
·特征主成分分量间相关性分析 | 第71页 |
·特征主成分分量与色差进行多变量回归分析 | 第71-73页 |
·预测值及误差估计 | 第73-74页 |
·结论 | 第74-75页 |
第6章 总结和展望 | 第75-76页 |
·现有工作总结 | 第75页 |
·将来进一步的工作 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-81页 |
致谢 | 第81-83页 |
附录A | 第83-85页 |
附录B | 第85-87页 |