| 摘要 | 第1-8页 |
| ABSTRACT | 第8-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-30页 |
| ·前言 | 第13页 |
| ·NTC 热敏电阻简介 | 第13-21页 |
| ·NTC 热敏电阻的发展历史 | 第13-14页 |
| ·NTC 热敏电阻的电阻与温度关系式 | 第14-15页 |
| ·NTC 热敏电阻的基本参数 | 第15-16页 |
| ·NTC 热敏电阻的分类及材料组成体系 | 第16-21页 |
| ·尖晶石结构NTC 热敏电阻材料的导电机理 | 第21-28页 |
| ·尖晶石结构的离子分布特征 | 第21-23页 |
| ·影响阳离子分布的因素 | 第23-24页 |
| ·测量阳离子分布的方法 | 第24-26页 |
| ·尖晶石结构NTC 热敏电阻材料的导电模型 | 第26-28页 |
| ·NTC 热敏电阻的老化机理 | 第28-29页 |
| ·本论文的主要研究内容 | 第29-30页 |
| 第二章 实验过程和测试方法 | 第30-37页 |
| ·实验原料 | 第30页 |
| ·仪器设备 | 第30-31页 |
| ·样品制备过程 | 第31-34页 |
| ·测试和表征 | 第34-37页 |
| ·电性能测试 | 第34页 |
| ·密度测试 | 第34页 |
| ·X 射线光电子能谱分析（XPS） | 第34-35页 |
| ·X 射线衍射分析(XRD) | 第35-37页 |
| 第三章 Si 掺杂Ni_(0.3)Co_(0.3)Mn_(2.4-x)Cu_xO_4(X=0.12,0.36)系热敏电阻的导电机理研究 | 第37-49页 |
| ·前言 | 第37页 |
| ·试验过程及样品测试 | 第37-38页 |
| ·实验结果与讨论 | 第38-47页 |
| ·电性能 | 第38-39页 |
| ·离子分布的研究 | 第39-44页 |
| ·XPS 分析 | 第39-43页 |
| ·X 射线分析 | 第43-44页 |
| ·导电机理 | 第44-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 第四章 Si掺杂Ni_(0.3)Co_(0.3)Mn_(2.4-x)Cu_xO_4 (12≤X≤0.36)系热敏电阻相结构和电性能的研究 | 第49-64页 |
| ·前言 | 第49页 |
| ·掺杂2wt% SiO_2 对Ni_(0.3)Co_(0.3)Mn_(2.4-x)Cu_xO_4 系(12≤X≤0.36)的影响 | 第49-54页 |
| ·实验过程及测试 | 第49-50页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第50-52页 |
| ·电性能 | 第52-54页 |
| ·SiO_2 添加量变化对Ni_(0.3)Co_(0.3)Mn_(2.4-x)Cu_xO_4 体系（X=0.27, 0.36）的影响 | 第54-60页 |
| ·实验过程及测试 | 第54-55页 |
| ·X 射线衍射分析 | 第55-57页 |
| ·电性能 | 第57-60页 |
| ·烧结温度对热敏电阻性能的影响 | 第60-62页 |
| ·实验过程及测试 | 第60页 |
| ·结果与讨论 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 Ni_(0.3)Co_(0.3)Mn_(2.16)Cu_(0.24)O_4热敏电阻老化机理研究及老化性能的改善 | 第64-75页 |
| ·前言 | 第64页 |
| ·样品制备与测试方法 | 第64-65页 |
| ·结果与讨论 | 第65-73页 |
| ·电性能 | 第65-66页 |
| ·老化机理的讨论 | 第66-71页 |
| ·掺杂对老化性能的影响 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 全文总结 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-83页 |
| 攻读硕士期间取得的研究成果 | 第83-84页 |
| 致谢 | 第84页 |
