| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第1章 绪论 | 第8-12页 |
| 1.1 论文的研究背景及意义 | 第8-9页 |
| 1.1.1 论文研究背景 | 第8-9页 |
| 1.1.2 论文研究的意义 | 第9页 |
| 1.2 国内外研究现状及趋势 | 第9-11页 |
| 1.3 研究内容及章节安排 | 第11-12页 |
| 1.3.1 研究内容 | 第11页 |
| 1.3.2 章节安排 | 第11-12页 |
| 第2章 CMOS时域图像传感器(TDCIS)及其硬件安全问题 | 第12-25页 |
| 2.1 图像传感器的背景 | 第12-16页 |
| 2.1.1 CCD图像传感器的工作原理 | 第13-14页 |
| 2.1.2 CMOS图像传感器的工作原理 | 第14-16页 |
| 2.2 CMOS时域图像传感器(TDCIS) | 第16-22页 |
| 2.2.1 基于时间数字转换器的CMOS时域图像传感器工作原理 | 第16-19页 |
| 2.2.2 时间数字转换器的分类以及原理介绍 | 第19-22页 |
| 2.3 CMOS时域图像传感器面临的安全问题 | 第22-24页 |
| 2.4 本章小结 | 第24-25页 |
| 第3章 用于TDCIS的物理不可克隆函数设计 | 第25-32页 |
| 3.1 图像传感器感光阵列 | 第25-26页 |
| 3.2 时间数字转换器 | 第26-27页 |
| 3.3 PUF码提取电路 | 第27-30页 |
| 3.3.1 寄存器 | 第29页 |
| 3.3.2 数值比较器 | 第29-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-32页 |
| 第4章 用于提高TDCIS物理不可克隆函数稳定性的片上时钟振荡器设计 | 第32-45页 |
| 4.1 振荡器的分类以及原理 | 第32-34页 |
| 4.1.1 环形振荡器 | 第32-33页 |
| 4.1.2 张弛振荡器 | 第33-34页 |
| 4.2 影响振荡器稳定性的因素 | 第34-35页 |
| 4.3 本论文设计的振荡器的理论来源 | 第35-37页 |
| 4.4 高稳态片上振荡器的设计 | 第37-44页 |
| 4.4.1 减小传输延时 | 第37-41页 |
| 4.4.2 消除失调电压 | 第41-42页 |
| 4.4.3 抑制电流镜失配 | 第42-44页 |
| 4.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第5章 仿真结果以及分析 | 第45-54页 |
| 5.1 振荡器的仿真结果 | 第45-50页 |
| 5.1.1 温度稳定性 | 第46页 |
| 5.1.2 工艺稳定性 | 第46-48页 |
| 5.1.3 相位噪声 | 第48-50页 |
| 5.2 物理不可克隆函数电路的仿真结果 | 第50-52页 |
| 5.2.1 物理不可克隆码的修正方法 | 第50页 |
| 5.2.2 唯一性 | 第50-52页 |
| 5.2.3 可靠性 | 第52页 |
| 5.3 应用 | 第52-53页 |
| 5.4 本章小结 | 第53-54页 |
| 第6章 总结与展望 | 第54-56页 |
| 参考文献 | 第56-58页 |
| 致谢 | 第58-59页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第59页 |
