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数控机床的多性能与多故障关联矩阵模型研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
1 绪论第8-18页
    1.1 课题来源及研究背景与意义第8-9页
    1.2 国内外研究现状第9-15页
    1.3 本文主要研究内容第15-18页
2 多性能与多故障关联分析第18-22页
    2.1 多性能与多故障的内在机理分析第18-19页
    2.2 多性能与多故障的关联矩阵第19-21页
    2.3 本章小结第21-22页
3 基于多性能退化轨迹的故障率求解第22-33页
    3.1 性能退化基本理论第22-25页
    3.2 性能退化轨迹的一般模型第25-26页
    3.3 伪失效寿命的一般分布第26-29页
    3.4 故障率的求解方法与步骤第29-32页
    3.5 本章小结第32-33页
4 基于专家模糊理论的关联矩阵求解第33-39页
    4.1 模糊理论基本知识第33-34页
    4.2 关联矩阵求解的方法与步骤第34-38页
    4.3 本章小结第38-39页
5 实例验证第39-56页
    5.1 进给系统试验平台简介第39-44页
    5.2 进给系统试验平台实验过程第44-45页
    5.3 验证分析第45-55页
    5.4 本章小结第55-56页
6 全文总结与展望第56-58页
    6.1 全文总结第56-57页
    6.2 工作展望第57-58页
致谢第58-59页
参考文献第59-63页

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