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一种实时信号处理系统3D多芯片组件设计

摘要第5-6页
Abstract第6页
1 绪论第9-14页
    1.1 背景及意义第9-10页
    1.2 国内外研究状况第10-11页
    1.3 本论文主要研究内容和主要研究流程第11-14页
        1.3.1 主要研究目标和内容第11-12页
        1.3.2 技术指标要求第12-13页
        1.3.3 总体研究流程第13-14页
2 3D-MCM集成工艺技术第14-25页
    2.1 MCM及其类别第14-15页
    2.2 MCM-C的基板制作工艺技术第15-19页
        2.2.1 LTCC基板加工工艺流程第15-17页
        2.2.2 LTCC加工重要工艺控制要求第17-19页
    2.3 MCM-C组封装工艺技术第19-21页
        2.3.1 MCM-C元器件安装工艺第19页
        2.3.2 MCM-C芯片互连工艺第19-21页
    2.4 MCM-C基板与封装的一体化第21-23页
        2.4.1 基本结构第21页
        2.4.2 封装工艺第21-23页
    2.5 MCM的三维叠层组装(3D-MCM集成)工艺第23-25页
3 系统硬件电路构成和版图设计第25-41页
    3.1 非制冷热像仪信号处理系统硬件构成第25-34页
        3.1.1 DSP信号处理电路子系统第27-30页
        3.1.2 FPGA控制电路子系统第30-33页
        3.1.3 A/D/A电路子系统第33-34页
    3.2 非制冷热像仪信号处理系统结构和版图设计第34-41页
        3.2.1 结构设计第34-35页
        3.2.2 版图设计软件和设计流程第35-38页
        3.2.3 高速MCM设计的信号完整性第38-41页
4 信号处理系统3D-MCM工艺设计和制造第41-47页
    4.1 2D-MCM加“腔体”结构的工艺集成第41页
    4.2 基于LTCC基板BGA器件微组装工艺研究第41-44页
    4.3 一体化空腔基板工艺研究第44-45页
    4.4 模块器件微组装和3D-MCM组装工艺研究第45-47页
5 信号处理系统模块测试和应用技术研究第47-53页
    5.1 模块电路电参数测试第47-50页
        5.1.1 上层模块(AD/DA子系统模块)测试第47-48页
        5.1.2 中间层模块(FPGA子系统模块)测试第48-49页
        5.1.3 下层模块(DSP子模块)测试第49页
        5.1.4 整个模块测试第49-50页
    5.2 信号处理系统模块主要技术指标测试及其应用测试第50-53页
6 结论第53-54页
攻读学位期间获奖和发表论文情况第54-55页
致谢第55-56页
参考文献第56-57页

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