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弯曲ZnO纳米线力电耦合效应的键弛豫理论研究

摘要第3-5页
Abstract第5-7页
第1章 导论第10-16页
    1.1 引言第10-12页
    1.2 国内外研究现状第12-15页
    1.3 本论文研究的目的和思路第15-16页
第2章 基本理论第16-22页
    2.1 引言第16页
    2.2 键弛豫理论第16-18页
    2.3 带隙与单键能第18-19页
    2.4 本章小结第19-22页
第3章 弯曲ZnO纳米线中带隙的应变调制第22-30页
    3.1 引言第22页
    3.2 理论模型第22-26页
    3.3 结果分析第26-29页
    3.4 本章小结第29-30页
第4章 ZnO纳米线压电性能的应变调控第30-42页
    4.1 引言第30-32页
    4.2 理论模型第32-37页
    4.3 结果分析第37-41页
    4.4 本章小结第41-42页
第5章 总结和展望第42-44页
    5.1 研究总结第42-43页
    5.2 研究展望第43-44页
参考文献第44-54页
攻读硕士学位期间完成的论文及获奖情况第54-55页
致谢第55-56页

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