超高频商用RFID标签性能的实验研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第11-17页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-12页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第12-14页 |
| 1.2.1 芯片技术的研究 | 第12-13页 |
| 1.2.2 天线设计技术的研究 | 第13页 |
| 1.2.3 对标签最大识别距离的影响因素 | 第13-14页 |
| 1.2.4 金属对标签性能的影响 | 第14页 |
| 1.3 研究内容与创新点 | 第14-16页 |
| 1.3.1 研究内容与本文工作 | 第14-15页 |
| 1.3.2 创新点 | 第15-16页 |
| 1.4 论文结构安排 | 第16-17页 |
| 第二章 UHF RFID技术 | 第17-29页 |
| 2.1 RFID发展史 | 第17-18页 |
| 2.2 RFID系统组成 | 第18页 |
| 2.3 UHF频段RFID系统的工作原理 | 第18-19页 |
| 2.3.1 RFID系统的基本工作原理 | 第18-19页 |
| 2.4 标签的结构及类型 | 第19-21页 |
| 2.4.1 按标签供电方式的分类 | 第19-20页 |
| 2.4.2 按RFID系统工作频率分类 | 第20-21页 |
| 2.4.3 标签内部结构 | 第21页 |
| 2.5 标签天线的工作原理 | 第21-26页 |
| 2.5.1 反向散射原理 | 第21-22页 |
| 2.5.2 雷达散射截面 | 第22-23页 |
| 2.5.3 天线的电参特性 | 第23-25页 |
| 2.5.4 标签的调制工作方式 | 第25-26页 |
| 2.6 EPC C1G2标准协议 | 第26-28页 |
| 2.7 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 测试方案设计 | 第29-57页 |
| 3.1 整体方案设计 | 第29-30页 |
| 3.2 标签性能测试基准 | 第30-31页 |
| 3.3 测量的实验设备和默认的测试参数 | 第31-34页 |
| 3.3.1 测试设备 | 第31页 |
| 3.3.2 设备参数 | 第31-33页 |
| 3.3.3 实验过程中的默认参数设置 | 第33-34页 |
| 3.4 标签的安全间隔距离 | 第34-40页 |
| 3.4.1 测试目标 | 第34-35页 |
| 3.4.2 实验设置 | 第35-36页 |
| 3.4.3 实验流程 | 第36-37页 |
| 3.4.4 测试结果 | 第37-40页 |
| 3.5 标签的最大读取范围 | 第40-48页 |
| 3.5.1 测试目标 | 第41页 |
| 3.5.2 实验设置 | 第41-43页 |
| 3.5.3 实验流程 | 第43-44页 |
| 3.5.4 测试结果 | 第44-48页 |
| 3.6 材质对标签读取性能的影响 | 第48-55页 |
| 3.6.1 测试目标 | 第49页 |
| 3.6.2 实验设置 | 第49-51页 |
| 3.6.3 实验流程 | 第51-52页 |
| 3.6.4 测试结果 | 第52-55页 |
| 3.7 本章小结 | 第55-57页 |
| 第四章 实验结果分析 | 第57-76页 |
| 4.1 实验设计与评价指标 | 第57-58页 |
| 4.1.1 实验环境设置 | 第57-58页 |
| 4.1.2 评价指标 | 第58页 |
| 4.2 标签安全间隔距离测试结果与分析 | 第58-65页 |
| 4.2.1 标签天线之间的耦合原理 | 第58-60页 |
| 4.2.2 标签天线的互阻抗计算 | 第60页 |
| 4.2.3 互耦对标签芯片阻抗的影响 | 第60-62页 |
| 4.2.4 计算标签的安全间隔距离 | 第62-65页 |
| 4.3 标签最大读取范围测试结果与分析 | 第65-72页 |
| 4.3.1 五种不同工作模式的参数分析 | 第65-69页 |
| 4.3.2 链路损耗分析 | 第69-71页 |
| 4.3.3 测试结果与理论值对比 | 第71-72页 |
| 4.4 不同材质对标签读取性能影响测试结果分析 | 第72-75页 |
| 4.4.1 发送功率对标签的读取性能的影响 | 第73-74页 |
| 4.4.2 介质与标签的间距对标签读取性能的影响 | 第74-75页 |
| 4.5 本章小结 | 第75-76页 |
| 第五章 总结与展望 | 第76-78页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第76页 |
| 5.2 不足与展望 | 第76-78页 |
| 致谢 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-82页 |
