版图转换算法与灵敏度新模型研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-17页 |
| ·集成电路的背景与发展 | 第7-8页 |
| ·集成电路成品率研究的意义 | 第8-11页 |
| ·CIF 版图研究的必要性 | 第11-12页 |
| ·版图灵敏度研究的必要性 | 第12-14页 |
| ·本文的内容与安排 | 第14-17页 |
| 第二章 基于随机缺陷的版图优化算法研究的前期准备 | 第17-33页 |
| ·数学形态学基本算法 | 第17-23页 |
| ·结构元素 | 第18-19页 |
| ·腐蚀和膨胀 | 第19-21页 |
| ·开运算和闭运算 | 第21-23页 |
| ·缺陷基本理论分析 | 第23-28页 |
| ·冗余物缺陷 | 第23-24页 |
| ·丢失物缺陷 | 第24-25页 |
| ·缺陷的分布模型 | 第25-28页 |
| ·关键面积 | 第28-31页 |
| ·基本概念 | 第29页 |
| ·短路关键面积 | 第29-30页 |
| ·开路关键面积 | 第30-31页 |
| ·本章小结 | 第31-33页 |
| 第三章 CIF 格式版图转换为 BMP 图像 | 第33-47页 |
| ·文件结构 | 第33-42页 |
| ·CIF 格式文件 | 第33-34页 |
| ·CIF 格式文件各命令分析 | 第34-36页 |
| ·CIF 文件中四种基本图元 | 第36-40页 |
| ·BMP 格式文件 | 第40-42页 |
| ·实际版图转换为平面图的算法 | 第42-46页 |
| ·版图图元的转换 | 第42-43页 |
| ·基本思想与总体算法 | 第43-44页 |
| ·运行结果 | 第44-46页 |
| ·本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 短路开路线网灵敏度新模型 | 第47-65页 |
| ·现有的短路灵敏度模型 | 第47-50页 |
| ·基于版图信息的短路灵敏度模型 | 第47-48页 |
| ·基于单位芯片上关键面积大小的短路灵敏度模型 | 第48-50页 |
| ·现有的开路灵敏度模型 | 第50-51页 |
| ·基于单位芯片上关键面积大小的开路灵敏度模型 | 第50-51页 |
| ·基于单位线网的开路灵敏度模型 | 第51页 |
| ·综合灵敏度模型 | 第51-53页 |
| ·基本概念 | 第51-52页 |
| ·综合灵敏度模型 | 第52-53页 |
| ·模型应用 | 第53-63页 |
| ·基于 NSOS 的版图优化方法 | 第53-62页 |
| ·优化方法性能分析 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第五章 总结与展望 | 第65-67页 |
| 致谢 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-73页 |
| 研究成果 | 第73-74页 |
