| 1． 引言 | 第1-14页 |
| 2． 实验方法 | 第14-25页 |
| 2．1 实验样品与实验设备 | 第14-15页 |
| 2．2 Laplace缺陷谱（LDS）装置 | 第15-16页 |
| 2．3 实验原理 | 第16-25页 |
| 2．3．1 DX中心的动力学过程 | 第16-18页 |
| 2．3．2 DX中心热俘获系数和热发射系数的热力学描述 | 第18-19页 |
| 2．3．3 DX中心电子热俘获过程的定电容电压瞬态 | 第19-20页 |
| 2．3．4 DX中心电子热发射过程的定电容电压瞬态 | 第20-21页 |
| 2．3．5 混晶展宽模型 | 第21-22页 |
| 2．3．6 LDS方法 | 第22-25页 |
| 3． 实验结果 | 第25-38页 |
| 3．1 DX中心电子热俘获定电容电压瞬态 | 第25-28页 |
| 3．2 电子热俘获LDS谱 | 第28-30页 |
| 3．3 电子热发射谱与热俘获谱之间的对应关系 | 第30-35页 |
| 3．4 DX中心电子热俘获势垒的精细结构 | 第35-38页 |
| 4． DX中心微观结构的理论分析 | 第38-47页 |
| 4．1 DX~-和DX中心 | 第38-39页 |
| 4．2 DX~-和DX'中心的束缚能、晶格驰豫能和光离化能 | 第39-43页 |
| 4．3 两类类DX中心的起因——晶格驰豫 | 第43-47页 |
| 5． 总结 | 第47-48页 |
| 6． 附录 | 第48-57页 |
| 6．1 Laplace缺陷谱（LDS）方法的原理 | 第48-51页 |
| 6．2 LDS谱方法的特点 | 第51-52页 |
| 6．3 LDS方法对瞬态的要求及其可靠性 | 第52-57页 |
| 7． 参考文献 | 第57-62页 |
| 致谢 | 第62页 |
