中文摘要 | 第1-8页 |
Abstract | 第8-13页 |
第一章 绪论 | 第13-20页 |
·引言 | 第13页 |
·植硅体的概念 | 第13-14页 |
·植硅体的特点 | 第14-15页 |
·研究历史 | 第15-16页 |
·在考古学中的应用 | 第16-17页 |
·本论文的主要工作与意义 | 第17-18页 |
参考文献 | 第18-20页 |
第二章 植硅体分析方法 | 第20-31页 |
·引言 | 第20页 |
·野外采样方法 | 第20-22页 |
·考古遗址的采样方法 | 第20-21页 |
·地质取芯的采样方法 | 第21页 |
·现代植硅体的采样 | 第21-22页 |
·实验室分析方法 | 第22-29页 |
·植硅体各种制备方法 | 第22-28页 |
·植硅体的鉴定与统计(Microscope techniques) | 第28-29页 |
·展望 | 第29-31页 |
第三章 植硅体分析方法在农业考古中的应用 | 第31-50页 |
·引言 | 第31-33页 |
·安徽滁州何郢遗址的植硅体分析 | 第33-41页 |
·遗址的考古学背景 | 第33-34页 |
·样品采集 | 第34页 |
·植硅体统计方法与数据 | 第34-35页 |
·水稻植硅体的分析 | 第35-37页 |
·小麦植硅体的对比分析 | 第37-39页 |
·切割形态植硅体的分析 | 第39-40页 |
·小结 | 第40-41页 |
·安徽霍邱堰台西周遗址的植硅体分析 | 第41-45页 |
·遗址的考古学背景 | 第41-42页 |
·样品采集 | 第42-43页 |
·遗址的农业生产状况 | 第43-44页 |
·小结 | 第44-45页 |
·分析与讨论 | 第45-46页 |
·结论 | 第46页 |
·展望 | 第46-47页 |
参考文献 | 第47-50页 |
第四章 植硅体分析在环境考古中的应用 | 第50-69页 |
·引言 | 第50-52页 |
·湖北郧西黄龙洞遗址的植硅体分析 | 第52-59页 |
·遗址的考古学背景 | 第52-54页 |
·样品采集 | 第54-55页 |
·样品的处理与数据 | 第55-56页 |
·植硅体分析 | 第56-59页 |
·讨论与结论 | 第59页 |
·两处商周时代遗址的植硅体分析 | 第59-63页 |
·何郢遗址古环境的植硅体分析 | 第60-61页 |
·堰台遗址古环境的植硅体分析 | 第61-62页 |
·分析与小结 | 第62-63页 |
·未知特殊形态分析 | 第63-64页 |
·结论 | 第64-65页 |
参考文献 | 第65-69页 |
第五章 植硅体分析方法的改进 | 第69-85页 |
·引言 | 第69-70页 |
·扫描电子显微镜下的三维重建 | 第70-74页 |
·样品介绍 | 第70页 |
·样品的三维图像重建 | 第70-72页 |
·样品三维图像分析 | 第72-73页 |
·实测方法 | 第73页 |
·测量精度分析 | 第73-74页 |
·小结 | 第74页 |
·光学显微镜下的三维重建 | 第74-79页 |
·EFI光学显微系统的三维重建 | 第75-77页 |
·VHX显微系统的三维重建 | 第77-79页 |
·小结 | 第79页 |
·光学显微镜下EFI全景深形态的统计分析 | 第79-82页 |
·EFI全景深形态统计分析的原理 | 第79-80页 |
·全景深照片的形态统计分析 | 第80-82页 |
·分析和讨论 | 第82-83页 |
·结论 | 第83-84页 |
参考文献 | 第84-85页 |
致谢 | 第85-87页 |
攻读学位期间发表的学术论文目录 | 第87页 |