SRAM型FPGA单粒子翻转效应的故障注入系统研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·课题背景 | 第8页 |
| ·国内外研究现状和发展方向 | 第8-10页 |
| ·单粒子翻转效应的评估技术 | 第9页 |
| ·故障注入技术的研究现状与发展 | 第9-10页 |
| ·课题的主要工作和内容安排 | 第10-12页 |
| ·主要工作 | 第10-11页 |
| ·内容安排 | 第11-12页 |
| 第二章 系统总体方案设计 | 第12-26页 |
| ·SRAM 型FPGA 辐射效应 | 第12-17页 |
| ·总剂量效应 | 第12-13页 |
| ·单粒子闩锁效应 | 第13-14页 |
| ·单粒子瞬态效应 | 第14-15页 |
| ·单粒子翻转效应 | 第15-17页 |
| ·辐射效应减轻技术 | 第17-19页 |
| ·系统总体方案 | 第19-25页 |
| ·方案论证 | 第19-22页 |
| ·故障注入方案 | 第22-23页 |
| ·故障注入流程 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 硬件电路设计 | 第26-42页 |
| ·电源电路模块 | 第27-28页 |
| ·电源需求分析 | 第27页 |
| ·电源电路设计 | 第27-28页 |
| ·SRAM 码流存储模块 | 第28-30页 |
| ·配置电路模块 | 第30-37页 |
| ·Virtex 配置方案 | 第30-34页 |
| ·Virtex 配置过程 | 第34-35页 |
| ·XCF04S 配置电路模块 | 第35-36页 |
| ·XC18V04 码流下载模块 | 第36-37页 |
| ·RS232 接口模块 | 第37-40页 |
| ·RS232 接口定义 | 第37-38页 |
| ·RS232 电平转换电路 | 第38-40页 |
| ·本章小结 | 第40-42页 |
| 第四章 系统逻辑设计与实现 | 第42-64页 |
| ·系统逻辑总体设计 | 第42-43页 |
| ·UART 串口通信模块 | 第43-48页 |
| ·UART 工作原理 | 第43-44页 |
| ·UART 模块实现 | 第44-48页 |
| ·SRAM 码流存储模块 | 第48-50页 |
| ·XC18V04 的读时序 | 第48-49页 |
| ·SRAM 的写时序 | 第49页 |
| ·SRAM 码流存储状态机 | 第49-50页 |
| ·DUT 芯片的配置模块 | 第50-55页 |
| ·SRAM 的读时序 | 第51-52页 |
| ·SelectMAP 配置模式 | 第52-53页 |
| ·DUT 芯片配置状态机 | 第53-55页 |
| ·部分重配模块 | 第55-60页 |
| ·部分重配过程 | 第55-56页 |
| ·帧地址计算 | 第56-58页 |
| ·配置位修改与遍历 | 第58-59页 |
| ·单帧重配状态机 | 第59-60页 |
| ·逻辑功能测试模块 | 第60-62页 |
| ·本章小结 | 第62-64页 |
| 第五章 软件设计与实现 | 第64-66页 |
| ·上位机软件 | 第64页 |
| ·设计实现 | 第64-65页 |
| ·实现方法 | 第64-65页 |
| ·通信协议 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-66页 |
| 第六章 仿真测试与结果分析 | 第66-70页 |
| ·待测电路 | 第66-67页 |
| ·测试向量 | 第67页 |
| ·仿真试验 | 第67-69页 |
| ·结果分析 | 第69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第七章 总结与展望 | 第70-72页 |
| 致谢 | 第72-74页 |
| 参考文献 | 第74-76页 |
| 研究成果 | 第76-77页 |
