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基于霍耳效应的气敏传感器的研制

第一章 引言第1-10页
   ·研究气体传感器的意义第6页
   ·课题背景第6-9页
     ·半导体气体传感器第6-7页
     ·电化学型气体传感器第7页
     ·固体电解质气体传感器第7页
     ·接触燃烧式气体传感器第7-8页
     ·光学式气体传感器第8页
     ·高分子气体传感器第8-9页
   ·课题研究内容第9-10页
第二章 反应机理与研究内容第10-24页
   ·金属氧化物能带结构及其缺陷第10-13页
     ·半导体能带结构第10-11页
     ·氧化物半导体缺陷第11-13页
       ·点缺陷第11-12页
       ·复合缺陷第12-13页
   ·金属氧化物半导体材料的气敏机理第13-16页
     ·晶界势垒模型第14页
     ·吸附氧理论第14-15页
     ·氧离子陷阱势垒模型第15-16页
     ·空间电荷层模型第16页
   ·三氧化钨的制备和应用现状第16-19页
     ·物理方法第17-18页
       ·固相反应法第17页
       ·气相法第17-18页
     ·化学方法第18-19页
       ·化学沉淀法第18页
       ·溶胶-凝胶法第18-19页
       ·微乳液法第19页
   ·霍耳效应第19-24页
     ·一种载流子的霍耳效应第19-21页
     ·两种载流子的霍耳效应第21-24页
第三章 实验部分第24-36页
   ·传感器结构的设计第24-25页
     ·基片的选择第24-25页
     ·传感器电极的设计第25页
   ·气敏材料的制备第25-26页
     ·气相法制备W03 机理第25-26页
     ·制备敏感膜过程第26页
   ·元件的制作第26-28页
     ·基片的清洗第26-27页
     ·敏感膜的涂成及烧结第27-28页
   ·元件的测试第28-36页
     ·实验电路测试图第28-29页
     ·元件气敏性能的测试第29-36页
       ·灵敏度与气体浓度的关系第29-30页
       ·外加电压与灵敏度的关系第30-31页
       ·元件的响应恢复特性第31-32页
       ·元件的稳定性第32-34页
       ·气体的选择性第34-36页
第四章 机理分析第36-50页
   ·材料表征第36-40页
     ·XRD 物相分析第36-39页
     ·扫描电镜分析第39-40页
   ·敏感膜与气体相互作用的理论模型第40-44页
   ·敏感机理分析第44-47页
   ·响应—恢复过程分析第47-50页
结论第50-51页
参考文献第51-54页
致谢第54-55页
个人简历第55页

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