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用经验紧束缚近似方法研究硅表面氢化特性及其对同质生长的影响

第一章 序言第1-11页
   ·半导体科学与技术的发展第7页
   ·硅材料与硅表面第7-11页
第二章 理论与方法第11-25页
   ·计算机模拟的方法和商业计算软件简介第11-16页
     ·第一性原理方法第12-16页
     ·商业计算软件简介第16页
   ·紧束缚近似方法第16-19页
   ·能量最小化的实现第19-20页
   ·基本模型与参数第20-23页
   ·其他一些相关理论第23-25页
第三章 SiH_2在Si(100)表面单空位中的吸附结构第25-31页
   ·SiH_2在Si(100)表面吸附结构的背景第25-26页
   ·SiH_2在Si(100)表面单空位中的吸附结构第26-30页
     ·计算模型第26页
     ·结果与讨论第26-30页
   ·结论第30-31页
第四章 0.5ML H-terminated Si(100)表面的结构第31-38页
   ·H-terminated Si(100)表面结构的背景第31页
   ·0.5ML H-terminated Si(100)表面的结构第31-37页
     ·计算模型第31-32页
     ·结果与讨论第32-37页
   ·结论第37-38页
第五章 硅原子在H-terminated Si(100)表面的吸附和扩散第38-46页
   ·硅原子在H-terminated Si(100)表面的吸附和扩散的背景第38页
   ·硅原子在H-terminated Si(100)表面的吸附和扩散的行为第38-45页
     ·计算模型第38-40页
     ·结果与讨论第40-45页
   ·结论第45-46页
第六章 硅原子在H-terminated Si(100)表面单空位附近的吸附和扩散第46-53页
   ·H-terminated Si(100)表面单空位的引入第46-47页
   ·硅原子在H-terminated Si(100)表面单空位附近的吸附和扩散行为第47-52页
     ·计算模型第47页
     ·结果与讨论第47-52页
   ·结论第52-53页
第七章 总结与展望第53-54页
图表目录第54-56页
参考文献第56-58页
攻读学位期间公开发表的论文第58-59页
致谢第59-60页
中文详细摘要第60-62页

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