航天继电器可靠性评价及寿命试验方法的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-29页 |
| ·课题的研究背景 | 第15-16页 |
| ·课题的研究目的和意义 | 第16-18页 |
| ·基于性能退化的产品可靠性研究现状 | 第18-21页 |
| ·继电器可靠性评价及寿命试验方法研究现状 | 第21-27页 |
| ·继电器接触失效机理研究现状 | 第21-23页 |
| ·继电器寿命预测技术研究现状 | 第23-24页 |
| ·继电器可靠性评估方法研究现状 | 第24-26页 |
| ·继电器寿命试验系统研究现状 | 第26-27页 |
| ·本文主要研究内容 | 第27-29页 |
| 第2章 航天继电器接触失效机理分析及判别方法 | 第29-55页 |
| ·引言 | 第29页 |
| ·性能退化参数确定 | 第29-33页 |
| ·研究对象 | 第29-30页 |
| ·触点等效动力学模型 | 第30-32页 |
| ·性能退化参数定义 | 第32-33页 |
| ·接触失效机理分析 | 第33-37页 |
| ·软失效机理分析 | 第34-35页 |
| ·硬失效机理分析 | 第35-37页 |
| ·软接触失效机理判别方法 | 第37-39页 |
| ·硬接触失效机理判别方法 | 第39-47页 |
| ·主元分析原理 | 第40页 |
| ·距离判别分析原理 | 第40-41页 |
| ·接触失效机理判别 | 第41-47页 |
| ·接触失效机理最佳鉴别参数 | 第47-51页 |
| ·退化参数鉴别性能评价 | 第48-50页 |
| ·结果分析 | 第50-51页 |
| ·失效触点表面形态及化学成分分析 | 第51-54页 |
| ·本章小结 | 第54-55页 |
| 第3章 航天继电器退化轨迹建模及寿命预测方法 | 第55-79页 |
| ·引言 | 第55页 |
| ·失效的基本概念 | 第55-56页 |
| ·寿命预测变量及失效判据 | 第56-59页 |
| ·寿命预测变量 | 第56-58页 |
| ·失效判据 | 第58-59页 |
| ·预测变量预处理 | 第59-62页 |
| ·小波变换 | 第60页 |
| ·平稳时间序列分析 | 第60-61页 |
| ·基于小波分析和时间序列分析的趋势项提取方法 | 第61-62页 |
| ·回归退化模型建立及寿命预测 | 第62-68页 |
| ·线性回归模型及参数估计 | 第63-65页 |
| ·寿命预测及评价 | 第65-68页 |
| ·失效物理退化模型建立及寿命预测 | 第68-77页 |
| ·线性累积模型 | 第69-72页 |
| ·退化率模型 | 第72-75页 |
| ·继电器寿命预测 | 第75-77页 |
| ·本章小结 | 第77-79页 |
| 第4章 航天继电器退化失效可靠性评估方法 | 第79-104页 |
| ·引言 | 第79-80页 |
| ·问题分析 | 第80-81页 |
| ·基于失效统计模型的航天继电器可靠性评估 | 第81-88页 |
| ·最佳失效分布模型的模糊判别 | 第82-85页 |
| ·分布模型参数估计 | 第85-87页 |
| ·可靠性评估过程 | 第87-88页 |
| ·基于随机过程的航天继电器可靠性评估 | 第88-97页 |
| ·退化参数的统计模型 | 第88-89页 |
| ·航天继电器可靠性模型 | 第89-91页 |
| ·单失效机理可靠性评估 | 第91-96页 |
| ·多失效机理可靠性评估 | 第96-97页 |
| ·基于失效物理的航天继电器可靠性评估 | 第97-98页 |
| ·评估结果及综合性能评价 | 第98-102页 |
| ·评估结果 | 第98-102页 |
| ·综合性能评价 | 第102页 |
| ·本章小结 | 第102-104页 |
| 第5章 航天继电器可靠性评价及寿命试验系统 | 第104-127页 |
| ·引言 | 第104页 |
| ·系统总体方案设计 | 第104-107页 |
| ·系统设计标准 | 第104-105页 |
| ·系统技术指标及功能 | 第105-106页 |
| ·总体方案设计 | 第106-107页 |
| ·系统硬件电路设计 | 第107-111页 |
| ·继电器触点监测电路设计 | 第107页 |
| ·信号调理电路设计 | 第107-109页 |
| ·多通道同步高速信号采集及分析电路设计 | 第109-110页 |
| ·继电器线圈驱动电路设计 | 第110-111页 |
| ·整机设计及装配 | 第111页 |
| ·系统下位机软件设计 | 第111-115页 |
| ·主控单元软件设计 | 第111-112页 |
| ·退化参数计算单元软件设计 | 第112-115页 |
| ·系统上位机软件设计 | 第115-121页 |
| ·试验过程控制子程序 | 第116-118页 |
| ·失效机理判别子程序 | 第118-119页 |
| ·寿命预测子程序 | 第119-120页 |
| ·可靠性评估子程序 | 第120-121页 |
| ·试验验证 | 第121-126页 |
| ·试验条件 | 第121-122页 |
| ·试验结果及分析 | 第122-126页 |
| ·本章小结 | 第126-127页 |
| 结论 | 第127-129页 |
| 参考文献 | 第129-138页 |
| 附录 | 第138-139页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第139-141页 |
| 致谢 | 第141-142页 |
| 个人简历 | 第142页 |
