| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第11-25页 |
| 1.1 表面分析技术 | 第11-16页 |
| 1.1.1 固体表面 | 第11页 |
| 1.1.2 常见的表面分析技术 | 第11-15页 |
| 1.1.3 场发射 | 第15-16页 |
| 1.2 扫描探针电子能谱学的发展 | 第16-23页 |
| 1.2.1 前期研究 | 第16-18页 |
| 1.2.2 电子能谱成像研究 | 第18-23页 |
| 1.3 非线性电子散射 | 第23-25页 |
| 第2章 SPEES装置的改进 | 第25-49页 |
| 2.1 SPEES装置简介 | 第25-30页 |
| 2.1.1 新一代SPEES谱仪的结构 | 第25-26页 |
| 2.1.2 STM系统 | 第26-28页 |
| 2.1.3 电子能量分析和采集系统 | 第28-29页 |
| 2.1.4 谱仪存在的问题 | 第29-30页 |
| 2.2 SPEES装置的屏蔽针尖改进 | 第30-42页 |
| 2.2.1 W针尖制作 | 第30-33页 |
| 2.2.2 微电极针尖屏蔽的制作 | 第33-38页 |
| 2.2.3 屏蔽针尖测试 | 第38-42页 |
| 2.3 样品制备与控制程序的改进 | 第42-47页 |
| 2.3.1 样品制备工艺的改进 | 第42-45页 |
| 2.3.2 控制程序的改进 | 第45-47页 |
| 2.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第3章 非线性电子散射研究 | 第49-63页 |
| 3.1 背景介绍 | 第49-52页 |
| 3.1.1 表面等离激元 | 第49-51页 |
| 3.1.2 非线性电子散射的发现 | 第51-52页 |
| 3.2 Au表面非线性电子散射研究 | 第52-56页 |
| 3.2.1 实验安排 | 第52页 |
| 3.2.2 电子能量损失谱 | 第52-53页 |
| 3.2.3 结果与讨论 | 第53-56页 |
| 3.3 Ag纳米结构角分布非线性电子散射研究 | 第56-62页 |
| 3.3.1 实验安排 | 第56-57页 |
| 3.3.2 电子能量损失谱 | 第57-59页 |
| 3.3.3 实验结果和讨论 | 第59-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第4章 扫描探针电子能谱学的研究 | 第63-79页 |
| 4.1 样品形貌对表面等离激元强度的影响 | 第63-71页 |
| 4.1.1 实验背景 | 第63-66页 |
| 4.1.2 热蒸发镀膜机简介 | 第66-67页 |
| 4.1.3 表面等离激元的激发强度随退火温度的变化 | 第67-69页 |
| 4.1.4 表面等离激元的激发强度随样品厚度的变化 | 第69-71页 |
| 4.2 Ag表面低能电子的研究 | 第71-78页 |
| 4.2.1 实验背景 | 第71-73页 |
| 4.2.2 卟啉分子电子结构的理论计算 | 第73-74页 |
| 4.2.3 有机分子蒸镀装置的制作 | 第74-75页 |
| 4.2.4 利用屏蔽针尖对Ag表面低能电子的研究 | 第75-78页 |
| 4.3 本章小结 | 第78-79页 |
| 第5章 吡咯分子电子动量谱研究 | 第79-89页 |
| 5.1 实验背景 | 第79页 |
| 5.2 (e,2e)理论介绍 | 第79-81页 |
| 5.3 实验结果和讨论 | 第81-87页 |
| 5.4 本章小结 | 第87-89页 |
| 总结和展望 | 第89-91页 |
| 参考文献 | 第91-101页 |
| 在读期间发表的学术论文与取得的研究成果 | 第101-103页 |
| 致谢 | 第103-104页 |