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基于长光程激光吸收光谱痕量气体及同位素探测技术研究

摘要第5-7页
Abstract第7-8页
第一章 绪论第12-23页
    1.1 研究背景与意义第12-13页
    1.2 可调谐二极管激光吸收光谱第13-17页
        1.2.1 可调谐激光光源第13-14页
        1.2.2 光电探测器第14-16页
        1.2.3 TDLAS技术发展现状第16-17页
    1.3 增加吸收光程的方法第17-21页
        1.3.1 光学多通池第17-18页
        1.3.2 腔衰荡技术第18-19页
        1.3.3 腔增强技术第19-21页
    1.4 本文的研究内容第21-23页
第二章 激光吸收光谱理论第23-40页
    2.1 直接吸收光谱第23-31页
        2.1.1 光的吸收第23-24页
        2.1.2 比尔—朗伯定律第24-25页
        2.1.3 吸收谱线的强度第25-27页
        2.1.4 吸收谱线的线型第27-31页
    2.2 波长调制光谱第31-38页
        2.2.1 WMS的基本原理第32-34页
        2.2.2 二次谐波第34-36页
        2.2.3 二次谐波信号分析第36-38页
    2.3 气体吸收线选择第38-39页
    2.4 本章小结第39-40页
第三章 免标定波长调制吸收光谱技术与实验研究第40-58页
    3.1 免标定波长调制吸收光谱算法第40-41页
    3.2 TDLAS气体探测系统第41-47页
        3.2.1 测量实验装置第41-42页
        3.2.2 激光器的性能第42-43页
        3.2.3 柱面镜光学多通池第43-46页
        3.2.4 探测器的性能第46页
        3.2.5 数据采集与处理第46-47页
    3.3 C_2H_2吸收谱线的选择第47-48页
    3.4 实验结果与分析第48-54页
        3.4.1 激光器频率的标定第48-49页
        3.4.2 拟合算法的实现第49-52页
        3.4.3 系统性能的标定第52-53页
        3.4.5 CF-WMS与传统WMS的比较第53-54页
    3.5 系统稳定性与探测极限评估第54-57页
        3.5.1 Allan方差第54-56页
        3.5.2 测量系统的稳定性与探测极限第56-57页
    3.6 本章小结第57-58页
第四章 平凸镜多通池设计与NH_3探测实验第58-70页
    4.1 平凸镜多通池的原理与设计第58-60页
        4.1.1 平凸镜多通池原理第58-59页
        4.1.2 平凸镜多通池的设计第59-60页
    4.2 实验装置第60-63页
        4.2.1 测量实验装置第60-62页
        4.2.2 信号产生与处理系统第62-63页
    4.3 NH_3吸收谱线的选择第63-65页
    4.4 实验结果与分析第65-69页
        4.4.1 系统性能的标定第65-66页
        4.4.2 NH_3吸附性影响第66-67页
        4.4.3 不同测量方法的比较第67-68页
        4.4.5 系统稳定性与探测极限评估第68-69页
    4.5 本章小结第69-70页
第五章 离轴腔增强装置设计与同位素探测实验第70-95页
    5.1 实验原理与方法第70-80页
        5.1.1 腔增强实验原理第70-73页
        5.1.2 同位素探测方法第73-77页
        5.1.3 Kalman滤波第77-80页
    5.2 同位素探测样机的研制第80-86页
        5.2.1 离轴腔增强装置的设计第80-83页
        5.2.2 激光控制器与探测器第83-84页
        5.2.3 数据采集与处理程序第84页
        5.2.4 测量实验装置第84-86页
    5.3 CO_2同位素实验结果与分析第86-90页
        5.3.1 CO_2同位素吸收谱线的选择第86-87页
        5.3.2 系统性能的测试第87-88页
        5.3.3 系统长期测量精度比较第88-90页
    5.4 CH_4同位素实验结果与分析第90-93页
        5.4.1 CH_4同位素吸收谱线的选择第90-91页
        5.4.2 系统性能的测试第91-92页
        5.4.3 系统长期测量精度比较第92-93页
    5.5 本章小结第93-95页
第六章 总结与展望第95-97页
参考文献第97-106页
致谢第106-107页
在读期间发表的学术论文第107页

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