（170-300）keV单能X射线的实现与测量
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-27页 |
| 1.1 研究背景及意义 | 第11-14页 |
| 1.2 国内外类似装置现状 | 第14-25页 |
| 1.2.1 德国PANTER装置 | 第14-15页 |
| 1.2.2 意大利LARIX装置 | 第15-19页 |
| 1.2.3 美国XRCF装置 | 第19-22页 |
| 1.2.4 法国SOLEX装置 | 第22-25页 |
| 1.3 研究目的 | 第25-27页 |
| 第2章 单能X射线辐射装置介绍 | 第27-37页 |
| 2.1 原理 | 第27-29页 |
| 2.2 X射线源系统 | 第29-30页 |
| 2.3 单晶单色器 | 第30-33页 |
| 2.4 准直管系统 | 第33-34页 |
| 2.5 移动定位系统 | 第34页 |
| 2.6 探测器系统 | 第34-37页 |
| 2.6.1 高纯锗探测器 | 第34-35页 |
| 2.6.2 碲化镉(CdTe)探测器 | 第35-37页 |
| 第3章 X射线光机性能测试 | 第37-43页 |
| 3.1 管电压的测量 | 第37-39页 |
| 3.2 管电流的测量 | 第39-40页 |
| 3.2.1 管电流的线性测量 | 第39页 |
| 3.2.2 管电流的重复性测量 | 第39-40页 |
| 3.3 光机固有过滤测量 | 第40-43页 |
| 第4章 探测器的刻度 | 第43-55页 |
| 4.1 高纯锗探测器能量刻度 | 第43-45页 |
| 4.2 高纯锗探测效率的模拟 | 第45-47页 |
| 4.3 高纯锗探测效率实验验证 | 第47-50页 |
| 4.4 不确定度评定 | 第50-55页 |
| 4.4.1 实验结果的不确定度评定 | 第50-53页 |
| 4.4.2 蒙卡模拟的不确定度评定 | 第53-55页 |
| 第5章 单能X射线辐射装置精密测量 | 第55-67页 |
| 5.1 束斑尺寸 | 第55-57页 |
| 5.1.1 GEM探测器 | 第55-56页 |
| 5.1.2 GEM测量结果 | 第56-57页 |
| 5.2 能量范围 | 第57-61页 |
| 5.3 单色性 | 第61-62页 |
| 5.4 束流强度 | 第62-64页 |
| 5.5 稳定性 | 第64-67页 |
| 第六章 结论与展望 | 第67-69页 |
| 6.1 结论 | 第67页 |
| 6.2 展望 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 作者攻读学位期间的科研成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
