| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第13-27页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 折叠相位编解码方法研究现状 | 第14-17页 |
| 1.3 折叠相位展开方法研究现状 | 第17-22页 |
| 1.4 折叠相位校正补偿方法研究现状 | 第22-26页 |
| 1.5 课题的来源及主要研究内容 | 第26-27页 |
| 第2章 测量装置数学模型建立与标定方法 | 第27-42页 |
| 2.1 引言 | 第27页 |
| 2.2 测量装置无约束非线性映射数学模型建立 | 第27-34页 |
| 2.2.1 有约束非线性映射模型 | 第27-31页 |
| 2.2.2 无约束非线性映射模型 | 第31-34页 |
| 2.3 测量装置标定方法 | 第34-37页 |
| 2.3.1 相机标定 | 第35-36页 |
| 2.3.2 测量装置结构参数标定 | 第36-37页 |
| 2.4 数学模型验证实验 | 第37-40页 |
| 2.5 本章小结 | 第40-42页 |
| 第3章 中国剩余定理工程化求解算法 | 第42-63页 |
| 3.1 引言 | 第42页 |
| 3.2 广义 CRT 敏感误差分析 | 第42-46页 |
| 3.3 实数剩余小数差判据 | 第46-54页 |
| 3.3.1 实数同余方程组解不存在敏感误差的条件 | 第46-48页 |
| 3.3.2 实数剩余小数差判据 | 第48-53页 |
| 3.3.3 判据充分性分析 | 第53-54页 |
| 3.4 中国剩余定理的工程化求解算法 | 第54-57页 |
| 3.5 CRTEA 验证实验 | 第57-61页 |
| 3.6 本章小结 | 第61-63页 |
| 第4章 基于 CRTEA 的模拟编码结构光三维测量方法 | 第63-83页 |
| 4.1 引言 | 第63页 |
| 4.2 基于 CRTEA 的余弦相移编码结构光三维测量方法 | 第63-69页 |
| 4.3 基于 CRTEA 的三角形相移编码结构光三维测量方法 | 第69-76页 |
| 4.4 基于 CRTEA 的梯形相移编码结构光三维测量方法 | 第76-81页 |
| 4.5 本章小结 | 第81-83页 |
| 第5章 折叠相位误差的校正补偿及三维测量实验 | 第83-109页 |
| 5.1 引言 | 第83页 |
| 5.2 三维测量装置 | 第83-85页 |
| 5.3 三维测量装置的标定 | 第85-88页 |
| 5.4 折叠相位误差的校正补偿 | 第88-98页 |
| 5.4.1 折叠相位误差的校正 | 第88-92页 |
| 5.4.2 编码图案伽马估计值的获取 | 第92-93页 |
| 5.4.3 折叠相位误差校正实验 | 第93-98页 |
| 5.5 三维测量实验 | 第98-107页 |
| 5.6 本章小结 | 第107-109页 |
| 结论 | 第109-111页 |
| 参考文献 | 第111-121页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第121-123页 |
| 致谢 | 第123页 |
