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基于深亚微米CMOS工艺的静电防护器件研究

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
目录第8-11页
第一章 绪论第11-29页
    1.1 研究背景和意义第11页
    1.2 ESD原理及其测试方法第11-20页
        1.2.1 ESD产生原理第11-12页
        1.2.2 ESD测试方法第12-20页
    1.3 ESD研究发展与现状第20-26页
        1.3.1 电热机制研究第21-22页
        1.3.2 ESD应力下的材料特性第22-23页
        1.3.3 工艺对ESD的影响第23-25页
        1.3.4 ESD CAD的发展第25-26页
    1.4 论文主要研究工作第26-29页
        1.4.1 本文主要工作第26-27页
        1.4.2 论文内容安排第27-29页
第二章 ESD防护器件的工作原理分析第29-43页
    2.1 非骤回型保护器件第29-34页
        2.1.1 CMOS工艺中的常见二极管第30-31页
        2.1.2 二极管击穿特性分析第31-34页
    2.2 骤回型保护器件第34-41页
        2.2.1 MOSFET器件第34-38页
        2.2.2 可控硅整流器第38-41页
    2.3 本章小结第41-43页
第三章 GGNMOS保护器件的仿真设计方法研究第43-63页
    3.1 ESD保护器件仿真设计方法概述第43-44页
    3.2 GGNMOS保护器件的数值仿真方法第44-49页
        3.2.1 物理模型第44-48页
        3.2.2 混合模式仿真第48-49页
    3.3 GGNMOS保护器件的电路仿真方法第49-61页
        3.3.1 GGNMOS保护器件电路模型构成第49-51页
        3.3.2 NMOS管模型第51页
        3.3.3 雪崩倍增电流源第51-53页
        3.3.4 寄生LNPN模型第53-55页
        3.3.5 衬底电阻模型第55-56页
        3.3.6 模型参数提取第56-58页
        3.3.7 保护器件电路模型搭建与仿真第58-61页
    3.4 本章小结第61-63页
第四章 GGNMOS保护器件的版图参数影响研究第63-77页
    4.1 研究背景和意义第63-65页
    4.2 沟道宽度第65-67页
    4.3 沟道长度第67-70页
        4.3.1 不同沟长器件的测试结果第67-68页
        4.3.2 仿真分析第68-70页
    4.4 源极和漏极接触孔到栅间距第70-76页
        4.4.1 金属硅化物工艺的影响第70-71页
        4.4.2 DCGS的影响第71-75页
        4.4.3 SCGS的影响第75-76页
    4.5 本章小结第76-77页
第五章 GGNMOS保护器件的衬底电阻模型研究第77-87页
    5.1 保护器件衬底电阻模型研究现状第77页
    5.2 考虑电导率调制效应的衬底电阻模型第77-79页
    5.3 SB间距对GGNMOS器件衬底电阻的影响第79-84页
        5.3.1 研究对象及仿真设置第79-80页
        5.3.2 基于不同衬底类型的仿真分析第80-84页
    5.4 GGNMOS器件的可调衬底电阻模型建立第84-86页
        5.4.1 可调衬底电阻模型第84-85页
        5.4.2 仿真分析第85-86页
    5.5 本章小结第86-87页
第六章 多叉指GGNMOS保护器件均匀触发问题研究第87-97页
    6.1 多叉指GGNMOS保护器件的不均匀导通现象第87-89页
    6.2 衬底触发技术研究第89-92页
        6.2.1 衬底触发原理第89-91页
        6.2.2 改进的衬底触发GGNMOS第91-92页
    6.3 基于动态衬底电阻的自触发GGNMOS结构第92-95页
        6.3.1 自衬底触发GGNMOS第92-93页
        6.3.2 动态衬底电阻SSTGGNMOS第93-95页
    6.4 本章小结第95-97页
第七章 总结与展望第97-99页
    7.1 全文总结第97-98页
    7.2 工作展望第98-99页
致谢第99-101页
参考文献第101-117页
攻读博士学位期间的研究成果第117-118页
    学术论文第117页
    参加研究的科研项目第117-118页
    专利第118页

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