首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--半导体技术论文--发光器件论文

基于CdSe@ZnS量子点全溶液法构筑绿光反型QLED器件

摘要第4-6页
ABSTRACT第6-7页
第一章 绪论第10-26页
    1.1 QLED的研究背景第10-14页
        1.1.1 QLED的研究与发展现状第10-12页
        1.1.2 QLED的结构简介第12-13页
        1.1.3 QLED的主要性能参数第13-14页
    1.2 QLED的发光机制和器件类型第14-17页
        1.2.1 QLED的发光机制第14-16页
        1.2.2 标准型与反型QLED器件的介绍第16-17页
    1.3 反型QLED的基本概况第17-24页
        1.3.1 反型QLED的发光机制第17-19页
        1.3.2 应用真空热蒸发法构筑的反型QLED器件及研究现状第19-21页
        1.3.3 应用全溶液法构筑的反型QLED器件及研究现状第21-24页
    1.4 目前存在的主要问题第24-25页
    1.5 研究的目的和主要内容第25-26页
第二章 利用溶液的正交特性构筑绿光反型QLED器件第26-40页
    2.1 引言第26-27页
    2.2 QDs的基本数据第27-28页
        2.2.1 QDs的合成第27页
        2.2.2 QDs的提纯第27-28页
        2.2.3 QDs的表征数据第28页
    2.3 绿光反型QLED器件的制备第28-34页
        2.3.1 实验所需材料第28-29页
        2.3.2 实验所用仪器和设备第29-30页
        2.3.3 器件的构筑过程第30-31页
        2.3.4 实验结果分析与讨论第31-34页
    2.4 PVK选用不同溶剂对器件性能影响的研究第34-38页
        2.4.1 实验设计思路第34-35页
        2.4.2 器件的构筑过程第35页
        2.4.3 实验结果分析与讨论第35-38页
    2.5 本章小结第38-40页
第三章 QDs层热处理和介入电子阻挡层对器件性能影响的研究第40-52页
    3.1 引言第40-41页
    3.2 QDs层热处理对器件性能影响的研究第41-46页
        3.2.1 器件的构筑过程第41页
        3.2.2 实验结果分析与讨论第41-46页
    3.3 介入电子阻挡层对器件性能影响的研究第46-50页
        3.3.1 实验设计思路第46-47页
        3.3.2 器件的构筑过程第47页
        3.3.3 实验结果分析与讨论第47-50页
    3.4 本章小结第50-52页
总结第52-54页
参考文献第54-62页
硕士期间的科研成果第62-63页
致谢第63-64页

论文共64页,点击 下载论文
上一篇:注入层及发光层调控构筑ZnCdSe/ZnS核壳结构量子点发光二极管
下一篇:硫酚类分子界面修饰层对量子点发光二极管性能的影响