致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7页 |
符号、缩写清单 | 第15-17页 |
第1章 引言 | 第17-20页 |
1.1 研究背景与选题 | 第17-18页 |
1.2 研究内容 | 第18-19页 |
1.3 章节概述 | 第19-20页 |
第2章 T/R组件的构成与主要MMIC芯片性能参数 | 第20-32页 |
2.1 T/R组件的构成 | 第20-21页 |
2.1.1 发射通道 | 第21页 |
2.1.2 接收通道 | 第21页 |
2.1.3 幅相控制 | 第21页 |
2.2 常见MMIC芯片及其性能参数 | 第21-25页 |
2.2.1 放大器 | 第22-24页 |
2.2.2 多功能芯片 | 第24-25页 |
2.3 各性能参数的物理意义 | 第25-32页 |
2.3.1 散射参数 | 第26-29页 |
2.3.2 功率参数 | 第29-30页 |
2.3.3 噪声参数 | 第30-32页 |
第3章 微波测试理论与自动测试系统硬件构成 | 第32-60页 |
3.1 供电与时域波形测试系统 | 第34-36页 |
3.1.1 直流稳压电源 | 第34-35页 |
3.1.2 波器 | 第35-36页 |
3.2 散射参数测试系统 | 第36-38页 |
3.2.1 标量网络分析仪 | 第36页 |
3.2.2 矢量网络分析仪 | 第36-38页 |
3.2.3 非线性矢量网络分析仪 | 第38页 |
3.3 功率参数测试系统 | 第38-44页 |
3.3.1 信号源 | 第38-39页 |
3.3.2 功率计 | 第39-42页 |
3.3.3 频谱仪 | 第42-44页 |
3.4 噪声测试系统 | 第44-48页 |
3.4.1 冷热源法 | 第44-45页 |
3.4.2 冷源法 | 第45-48页 |
3.5 控制系统与测试平台 | 第48-49页 |
3.5.1 开关矩阵 | 第48页 |
3.5.2 测试平台 | 第48-49页 |
3.6 系统误差校准与不确定度分析 | 第49-58页 |
3.6.1 散射参数校准 | 第49-55页 |
3.6.2 功率参数校准 | 第55-56页 |
3.6.3 噪声参数校准 | 第56-57页 |
3.6.4 测试不确定度分析 | 第57-58页 |
3.7 自主开发自动测试系统的必要性 | 第58-60页 |
第4章 自动测试系统的软件实现 | 第60-71页 |
4.1 自动测试系统软件的基本概念 | 第60-64页 |
4.1.1 虚拟仪器与虚拟仪器软件结构 | 第60-61页 |
4.1.2 程控仪器标准命令集 | 第61-62页 |
4.1.3 常见接口总线 | 第62-64页 |
4.2 自动测试系统控制软件设计 | 第64-71页 |
4.2.1 前端基于C | 第64-67页 |
4.2.2 中端基于于MySQL的数据库管理系统 | 第67-69页 |
4.2.3 终端基于Django编写的网页式可视化数据查询系统 | 第69-71页 |
第5章 测试实例与结果分析 | 第71-91页 |
5.1 自动测试软件通用界面介绍 | 第72-75页 |
5.2 功率放大器芯片自动测试系统 | 第75-79页 |
5.2.1 功率放大器芯片测试项与测试条件 | 第75-76页 |
5.2.2 功率放大器芯片自动测试系统构成 | 第76-77页 |
5.2.3 功率放大器芯片测试步骤与结果 | 第77-79页 |
5.3 低噪声放大器芯片自动测试系统 | 第79-82页 |
5.3.1 低噪声放大器芯片测试项与测试条件 | 第79页 |
5.3.2 低噪声放大器芯片自动测试系统构成 | 第79-80页 |
5.3.3 低噪声放大器芯片测试步骤与结果 | 第80-82页 |
5.4 多功能芯片自动测试系统 | 第82-87页 |
5.4.1 多功能芯片测试项与测试条件 | 第82-83页 |
5.4.2 多功能芯片自动测试系统构成 | 第83-84页 |
5.4.3 多功能芯片测试步骤与结果 | 第84-87页 |
5.5 自动测试系统性能分析 | 第87-91页 |
5.5.1 范围优势 | 第87-88页 |
5.5.2 速度优势 | 第88-89页 |
5.5.3 精度优势 | 第89-91页 |
第6章 结论与展望 | 第91-93页 |
6.1 究结论 | 第91页 |
6.2 未来展望 | 第91-93页 |
参考文献 | 第93-97页 |
作者简介 | 第97页 |