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双轴光电跟踪转台的完全跟踪控制研究

摘要第5-6页
Abstract第6页
第1章 绪论第9-17页
    1.1 引言第9-10页
    1.2 光电跟踪转台控制方法研究概况第10-11页
    1.3 完全跟踪控制研究概况第11-12页
    1.4 目标检测跟踪算法研究概况第12-15页
    1.5 本论文主要研究工作第15-17页
第2章 双轴光电跟踪转台的工作原理及其建模第17-26页
    2.1 引言第17页
    2.2 双轴光电跟踪转台的结构与工作原理第17-21页
        2.2.1 双轴光电跟踪转台系统组成及结构第17-20页
        2.2.2 工作原理第20-21页
    2.3 双轴转台的建模与仿真第21-25页
        2.3.1 双轴光电跟踪转台的建模第21-24页
        2.3.2 仿真验证第24-25页
    2.4 小结第25-26页
第3章 双轴光电跟踪转台的完全跟踪控制算法研究第26-41页
    3.1 引言第26-27页
    3.2 完全跟踪控制策略第27-32页
        3.2.1 基本原理和方法第27-29页
        3.2.2 完全跟踪控制器设计第29-30页
        3.2.3 仿真验证第30-32页
    3.3 基于控制量细分的完全跟踪控制第32-40页
        3.3.1 基本原理第32-34页
        3.3.2 基于控制量细分的完全跟踪控制器设计第34-37页
        3.3.3 仿真验证第37-40页
    3.4 小结第40-41页
第4章 双轴光电跟踪转台的目标检测跟踪算法研究第41-58页
    4.1 引言第41页
    4.2 基于多特征融合的分层粒子滤波算法设计第41-57页
        4.2.1 粒子滤波理论原理第41-42页
        4.2.2 系统状态转移模型的构建第42页
        4.2.3 分层粒子滤波框架第42-44页
        4.2.4 基于角点特征的目标匹配第44-46页
        4.2.5 颜色-边缘联合特征观测模型的建立第46-49页
        4.2.6 整体的算法流程第49-51页
        4.2.7 实验结果及分析第51-57页
    4.3 小结第57-58页
第5章 半实物仿真实验及系统整体实验第58-78页
    5.1 基于RTW和xPC Target半实物仿真第58-63页
        5.1.1 基于RTW和xPC Target半实物仿真原理第58-60页
        5.1.2 基于RTW和xPC Target的半实物仿真平台构建第60-62页
        5.1.3 完全跟踪控制算法半实物仿真验证第62-63页
    5.2 双轴光电跟踪转台系统实验第63-77页
        5.2.1 实验环境模拟第63-71页
        5.2.2 实验步骤第71页
        5.2.3 实验结果及分析第71-77页
    5.3 小结第77-78页
结论第78-80页
参考文献第80-85页
攻读学位期间发表的论文及其他成果第85-86页
致谢第86页

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