| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-11页 |
| 1 引言 | 第11-32页 |
| ·高光谱成像技术的应用及发展历程 | 第11-13页 |
| ·高光谱成像技术的应用 | 第11页 |
| ·高光谱成像技术的发展历程 | 第11-13页 |
| ·航天高光谱成像技术的发展趋势及存在的挑战 | 第13-16页 |
| ·航天高光谱成像技术的发展趋势 | 第13-14页 |
| ·航天高光谱成像技术面临的挑战 | 第14-16页 |
| ·可用于空间相机的可见近红外探测器 | 第16-24页 |
| ·CMOS图像传感器的新发展 | 第16-19页 |
| ·CCD的新发展 | 第19-21页 |
| ·混成型CMOS探测器HyVisSi | 第21-22页 |
| ·衬底移除型HgCd Te探测器 | 第22-23页 |
| ·适用于航天高光谱成像的CCD与CMOS器件对比 | 第23-24页 |
| ·高帧频背照式CCD在空间应用中存在的问题 | 第24-30页 |
| ·高帧频CCD的拖尾问题 | 第24-26页 |
| ·背照式CCD的Etalon效应 | 第26页 |
| ·空间辐照效应对CCD的影响 | 第26-30页 |
| ·课题研究意义与本文主要内容 | 第30-32页 |
| 2 高帧频帧转移CCD拖尾抑制及校正技术研究 | 第32-65页 |
| ·Smear的成因及其影响 | 第32-40页 |
| ·Smear的成因 | 第32页 |
| ·Smear对成像光谱仪光谱测量精度的影响 | 第32-36页 |
| ·Smear对成像光谱仪信噪比的影响 | 第36-37页 |
| ·电荷转移效率及其对光谱测量精度的影响 | 第37-40页 |
| ·帧转移CCD拖尾抑制技术 | 第40-54页 |
| ·采用有利于减小拖尾的CCD结构 | 第40-42页 |
| ·CCD驱动信号波形对其满阱容量的影响 | 第42-44页 |
| ·CCD驱动电路建模 | 第44-47页 |
| ·CCD驱动器对驱动时钟波形的影响 | 第47-48页 |
| ·PCB传输线参数对驱动时钟波形的影响 | 第48-51页 |
| ·CCD内部参数对驱动时钟波形的影响 | 第51页 |
| ·CCD驱动电路优化设计 | 第51-52页 |
| ·低拖尾驱动技术测试结果 | 第52-54页 |
| ·拖尾校正方法研究 | 第54-61页 |
| ·辐射损伤对转移效率的影响及相应的设计措施 | 第61-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 3 背照式CCD的Etalon效应研究 | 第65-86页 |
| ·背照式CCD里Etalon效应的成因及其影响因素 | 第65-70页 |
| ·背照式CCD的Etalon效应的改善方法 | 第70-73页 |
| ·背照式CCD在单色光下Etalon效应的测试 | 第73-81页 |
| ·背照式CCD在成像光谱仪中Etalon效应的测试 | 第81-85页 |
| ·本章小结 | 第85-86页 |
| 4 CCD暗电流的抑制和校正方法 | 第86-104页 |
| ·CCD的暗电流特性及其抑制方法 | 第86-89页 |
| ·暗电流对CCD性能的影响 | 第86-87页 |
| ·暗电流的构成及其温度特性 | 第87-88页 |
| ·抑制暗电流的驱动方式 | 第88-89页 |
| ·暗电流自动抑制方法 | 第89-91页 |
| ·暗电流自动抑制实验结果 | 第91-95页 |
| ·暗电流温度特性测试结果 | 第91-92页 |
| ·不同工作状态对CCD其他性能的影响 | 第92-93页 |
| ·暗电流自动抑制效果测试 | 第93-95页 |
| ·CCD暗电流估计及校正方法 | 第95-101页 |
| ·通过暗像元的值估计暗电流 | 第96-99页 |
| ·通过温度值估计暗电流 | 第99-101页 |
| ·辐射损伤对暗电流的影响及相应的设计措施 | 第101-103页 |
| ·本章小结 | 第103-104页 |
| 5 高帧频CCD多通道信息获取与处理技术 | 第104-134页 |
| ·概述 | 第104页 |
| ·系统噪声组成 | 第104-106页 |
| ·CCD低噪声信息获取技术 | 第106-124页 |
| ·CCD驱动信号的整形 | 第106-110页 |
| ·集成化模拟前端芯片的选型 | 第110-114页 |
| ·模拟前端芯片应用中的时钟同步问题 | 第114-117页 |
| ·多通道混合信号电路接地设计 | 第117-121页 |
| ·基于谱段可调增益的信噪比增强方法 | 第121-124页 |
| ·多通道CCD串扰问题研究 | 第124-130页 |
| ·多通道CCD串扰问题概述 | 第124-126页 |
| ·多通道CCD针对串扰问题的改善措施 | 第126-130页 |
| ·辐射损伤对读出放大器的影响及相应的设计措施 | 第130-133页 |
| ·本章小结 | 第133-134页 |
| 6 高帧频背照CCD在星载高光谱成像仪中的应用及测试结果 | 第134-152页 |
| ·系统方案设计 | 第134-139页 |
| ·系统指标要求及总体方案设计 | 第134页 |
| ·CCD主要参数及功能的设置 | 第134-136页 |
| ·像称补偿成像模式 | 第136-137页 |
| ·可编程光谱成像技术 | 第137-139页 |
| ·电子学系统设计 | 第139-141页 |
| ·系统性能测试 | 第141-144页 |
| ·噪声及信噪比测试 | 第141-142页 |
| ·动态范围测试 | 第142-143页 |
| ·MTF测试 | 第143-144页 |
| ·光谱分辨率测试 | 第144页 |
| ·全色成像与光谱成像实验 | 第144-151页 |
| ·全色成像 | 第144-146页 |
| ·光谱成像实验 | 第146-151页 |
| ·本章小结 | 第151-152页 |
| 7 总结与展望 | 第152-155页 |
| 参考文献 | 第155-159页 |
| 作者简介及在学期间发表的学术论文与研究成果 | 第159页 |
