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数字集成电路自动测试生成算法研究

摘要第1-5页
Abstract第5-7页
目录第7-10页
第一章 绪论第10-18页
   ·课题研究背景第10-13页
     ·VLSI 实现的基本流程第10-11页
     ·集成电路的测试成本第11-13页
     ·集成电路的测试基本流程第13页
   ·数字电路测试生成方法概述第13-14页
   ·本文课题的主要研究工作第14-15页
   ·论文的组织结构第15-18页
第二章 数字电路测试生成相关概念和原理第18-42页
   ·测试生成基本原理和概念第18-32页
     ·基本概念第18-19页
     ·缺陷、失效和故障第19-20页
     ·基本故障模型第20-22页
     ·故障等效与压缩第22-24页
     ·自动测试向量生成(ATPG)第24-30页
     ·测试向量生成算法评价第30-31页
     ·故障冗余的识别第31页
     ·测试集优化第31-32页
   ·数字电路测试生成算法研究现状第32-40页
     ·组合电路测试生成算法第32-36页
     ·时序电路测试生成算法第36-40页
   ·本章小结第40-42页
第三章 无回溯组合电路测试生成算法第42-52页
   ·引言第42页
   ·相关定义第42-43页
   ·无回溯并行多路径搜索测试向量生成算法(NBMP)第43-48页
     ·NBMP 算法思想第43-45页
     ·NBMP 算法效率分析第45-46页
     ·NBMP 算法的实现第46-48页
   ·实验结果与分析第48-51页
   ·结论第51-52页
第四章 可满足性测试生成算法第52-66页
   ·可满足性相关概念第52-57页
     ·基本概念第52-53页
     ·可满足性相关代数定义第53-56页
     ·数字电路基本逻辑门的布尔表达式的CNF 范式表达第56-57页
   ·SAT 算法简介第57-60页
     ·完备的SAT 算法第57-59页
     ·不完备的SAT 算法第59-60页
   ·DPLL 算法第60-64页
     ·DP 算法第61-62页
     ·DPLL 算法(递归形式)第62-63页
     ·DPLL 算法(迭代形式)第63-64页
     ·BCP 算法第64页
   ·本章小结第64-66页
第五章 基于SAT 分级处理增量式测试生成第66-80页
   ·算法提出背景第66-67页
   ·基于增量式SAT 测试生成算法第67-68页
   ·基于SAT 分级处理增量式测试生成(HISAT)相关概念第68-70页
     ·电路无分支路径第68页
     ·支配故障压缩第68-69页
     ·路径冲突处理和路径冲突预测第69-70页
   ·基于SAT 分级处理增量式测试生成算法思想第70-74页
     ·分级处理第70-72页
     ·增量式SAT第72-74页
     ·时序处理第74页
   ·基于SAT 分级处理增量式测试生成算法实现第74-76页
   ·实验结果与分析第76-78页
   ·结论第78-80页
第六章 基于带路径布尔函数的电路冗余识别第80-92页
   ·基本概念第80-81页
     ·冗余故障第80-81页
     ·布尔代数系统第81页
   ·数字电路逻辑冗余识别算法(RDIBP)第81-84页
     ·带路径的数字电路布尔函数的表示第81-82页
     ·带路径的布尔函数化简规则及公式第82-83页
     ·实例分析第83页
     ·分组策略和规模控制策略第83-84页
   ·RDIBP 算法实现第84-88页
     ·测试集合组生成(TGSEK)第85页
     ·布尔函数项的化简(BIS)第85-86页
     ·布尔函数的化简(BFS)第86-87页
     ·冗余路径选择第87-88页
   ·实验结果与分析第88-89页
   ·结论第89-92页
第七章 一个多目标启发式集成电路测试集约简算法第92-102页
   ·引言第92页
   ·相关定义第92-93页
   ·现存算法分析第93-94页
   ·一个启发式测试集约简算法(Priority-Selected)第94-96页
   ·实验结果与分析第96-101页
   ·结论第101-102页
第八章 结束语第102-106页
致谢第106-108页
参考文献第108-120页
附录第120页

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