科氏质量流量计实验和应用中关键技术研究
摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-8页 |
致谢 | 第8-15页 |
第一章 绪论 | 第15-22页 |
·科氏质量流量计简介 | 第15-19页 |
·科氏质量流量计的工作原理 | 第15-18页 |
·科氏质量流量计的组成 | 第18页 |
·科氏质量流量计的研究现状 | 第18-19页 |
·科氏质量流量计实际应用和实验中常见的问题 | 第19-20页 |
·课题来源和研究内容 | 第20-22页 |
第二章 科氏质量流量计的耐高温技术 | 第22-35页 |
·概述 | 第22页 |
·变送器高温测试 | 第22-24页 |
·温度实验系统组成 | 第22-23页 |
·变送器高温测试 | 第23-24页 |
·DSP 芯片内部结温过高原因分析 | 第24-28页 |
·系统其它热源的影响 | 第24-26页 |
·DSP 本身功耗的影响 | 第26页 |
·数字 IC 的热传导性能 | 第26-28页 |
·变送器的耐高温对策 | 第28-33页 |
·器件的准确选型 | 第28-29页 |
·减少系统其它热源的影响 | 第29-30页 |
·PCB 的精心设计 | 第30-32页 |
·降低 DSP 本身的功耗 | 第32-33页 |
·改善散热条件 | 第33页 |
·本章小结 | 第33-35页 |
第三章 科氏流量计一次仪表与变送器的匹配 | 第35-47页 |
·概述 | 第35页 |
·自激振荡的条件及工作过程 | 第35-36页 |
·稳态幅值方程及其图解分析方法 | 第36-39页 |
·稳态幅值方程 | 第36-38页 |
·稳态幅值方程图解分析方法 | 第38-39页 |
·一次仪表与变送器匹配的应用 | 第39-46页 |
·最佳启振 | 第39-42页 |
·最佳稳态幅值 | 第42-44页 |
·高温环境下的匹配问题 | 第44-46页 |
·本章小结 | 第46-47页 |
第四章 高频科氏质量流量变送器硬件系统研制 | 第47-74页 |
·概述 | 第47-48页 |
·硬件系统组成 | 第48页 |
·DSP 最小系统与外设外扩电路 | 第48-55页 |
·两种 DSP 芯片的比较 | 第48-50页 |
·TMS320C6726 硬件资源分配 | 第50-51页 |
·DSP 电源电路设计和退耦策略 | 第51-53页 |
·外设扩展电路 | 第53-55页 |
·信号调理与采集电路 | 第55-64页 |
·科氏质量流量计传感器信号特点 | 第55页 |
·电路结构和分析 | 第55-64页 |
·温度测量电路 | 第64-66页 |
·电桥法测量 | 第64-65页 |
·恒流源法测量 | 第65-66页 |
·远程传输与通讯电路 | 第66-69页 |
·高精度脉冲输出电路 | 第67-68页 |
·高精度电流环输出电路与 HART 通讯 | 第68-69页 |
·系统测试 | 第69-73页 |
·变送器系统研制 | 第69-70页 |
·系统测试 | 第70-73页 |
·本章小结 | 第73-74页 |
第五章 科氏质量流量计实验装置设计 | 第74-94页 |
·概述 | 第74-75页 |
·装置组成和功能 | 第75-81页 |
·装置组成 | 第75页 |
·装置功能及工作过程 | 第75-78页 |
·关键部件参数与选型 | 第78-81页 |
·装置不确定度与流量稳定度检定 | 第81-86页 |
·电子秤的不确定度 | 第81-82页 |
·换向器的不确定度 | 第82-84页 |
·计时器的不确定度 | 第84页 |
·装置扩展不确定度 | 第84-85页 |
·装置流量稳定性分析 | 第85-86页 |
·装置检定精度影响因素分析 | 第86-90页 |
·不同标定方法的影响 | 第86-87页 |
·装置流量稳定性的影响 | 第87页 |
·换向器同步方式的影响 | 第87-90页 |
·一次仪表的安装的影响 | 第90页 |
·管线温度和压力的影响 | 第90页 |
·装置测试结果 | 第90-92页 |
·本章小结 | 第92-94页 |
第六章 总结与展望 | 第94-96页 |
·总结 | 第94-95页 |
·展望 | 第95-96页 |
参考文献 | 第96-99页 |
硕士阶段撰写的论文、申报的专利和获得的奖励 | 第99-100页 |
附录 | 第100-107页 |
附录一:工业标定现场照片 | 第100-101页 |
附录二:标定原始数据 | 第101-103页 |
附录三:企业效益证明与荣誉证书 | 第103-107页 |