| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-21页 |
| ·引言 | 第9-12页 |
| ·惯性约束聚变简介 | 第9-11页 |
| ·强场物理与快点火 | 第11-12页 |
| ·激光等离子体 X 射线 | 第12-14页 |
| ·激光等离子体 X 射线的产生和诊断意义 | 第12-13页 |
| ·硬 X 射线的诊断方法 | 第13-14页 |
| ·透射式硬 X 射线弯晶谱仪国内外研究现状 | 第14-19页 |
| ·国外研究现状 | 第14-18页 |
| ·国内研究现状 | 第18-19页 |
| ·本文主要任务 | 第19-21页 |
| 2 透射式弯晶谱仪的基本理论 | 第21-35页 |
| ·光谱仪器的基本组成、分类及特性 | 第21-25页 |
| ·光谱仪的基本组成和分类 | 第21-23页 |
| ·光谱仪的基本特性 | 第23-25页 |
| ·晶体谱仪 | 第25-29页 |
| ·晶体的 X 射线衍射 | 第25-27页 |
| ·晶体谱仪的分类 | 第27-29页 |
| ·透射式弯晶谱仪工作模式 | 第29-32页 |
| ·两种透射弯曲晶体的分光原理 | 第29-31页 |
| ·透射弯晶谱仪的工作模式 | 第31-32页 |
| ·本章小结 | 第32-35页 |
| 3 透射式弯晶谱仪的设计参数 | 第35-49页 |
| ·透射式弯晶谱仪的几何光学结构及理论计算 | 第35-38页 |
| ·透射式弯晶谱仪的几何光学结构 | 第35-36页 |
| ·透射式弯晶谱仪的几何光学结构 | 第36-38页 |
| ·不同设计参数对谱仪性能指标的影响情况 | 第38-45页 |
| ·晶格常数对谱仪测谱范围和分辨能力的影响研究 | 第38-39页 |
| ·晶体曲率半径对测谱范围和分辨能力的影响 | 第39-41页 |
| ·光源与晶体的距离对测谱范围和分辨能力的影响 | 第41-42页 |
| ·探测器位置、光源尺寸和探测器空间分辨对分辨能力影响 | 第42-45页 |
| ·光源偏离及探测器位置偏离对谱线位置的影响 | 第45-46页 |
| ·本章小结 | 第46-49页 |
| 4 透射式弯晶谱仪设计方案 | 第49-65页 |
| ·透射式弯晶谱仪总体设计 | 第49-50页 |
| ·分光系统设计 | 第50-56页 |
| ·分光系统光学设计 | 第50-52页 |
| ·分光系统机械结构设计 | 第52-56页 |
| ·探测和记录系统设计 | 第56-60页 |
| ·探测记录元件选择 | 第56-59页 |
| ·探测记录系统机械设计 | 第59-60页 |
| ·瞄准对中系统 | 第60-62页 |
| ·谱仪集成与调试 | 第62-64页 |
| ·本章小结 | 第64-65页 |
| 5 实验测试及结果分析 | 第65-73页 |
| ·X 射线管实验 | 第65-70页 |
| ·实验设置 | 第65-66页 |
| ·实验结果及分析 | 第66-70页 |
| ·500TW 激光装置实验 | 第70-72页 |
| ·实验设置 | 第70-71页 |
| ·实验结果及分析 | 第71-72页 |
| ·本章小结 | 第72-73页 |
| 6 总结 | 第73-75页 |
| ·全文总结 | 第73-74页 |
| ·展望 | 第74-75页 |
| 致谢 | 第75-77页 |
| 参考文献 | 第77-81页 |
| 附录 | 第81页 |
| A. 作者在攻读学位期间已录用的论文目录 | 第81页 |