| 摘 要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 引言 | 第7-12页 |
| ·光纤通信系统 | 第7-10页 |
| ·光纤通信简介 | 第7页 |
| ·光纤数字通信标准和协议 | 第7-8页 |
| ·光纤通信用微电子光电子材料与工艺 | 第8页 |
| ·光纤传输系统 | 第8-9页 |
| ·3R再生 | 第9-10页 |
| ·数字光纤通信系统的主要性能指标 | 第10页 |
| ·论文组织 | 第10-12页 |
| 第二章 时钟恢复电路的系统结构与原理分析 | 第12-59页 |
| ·时钟恢复概述 | 第12-15页 |
| ·时钟恢复电路的作用 | 第12页 |
| ·两种时钟恢复类型 | 第12页 |
| ·四种时钟恢复电路结构 | 第12-14页 |
| ·NRZ数据特性 | 第14-15页 |
| ·NRZ信号预处理器 | 第15-19页 |
| ·原理结构 | 第15-16页 |
| ·预滤波器 | 第16-17页 |
| ·平方器 | 第17页 |
| ·预处理器的实现 | 第17-18页 |
| ·预处理器的变换因子 | 第18-19页 |
| ·锁相环电路 | 第19-37页 |
| ·简单锁相环基本结构与原理 | 第19-22页 |
| ·锁相环的环路模型 | 第22-27页 |
| ·锁相环动态特性 | 第27-32页 |
| ·锁相环路的四个频率范围与传递函数 | 第32-35页 |
| ·噪声参数 | 第35-36页 |
| ·CRC中PLL的设计 | 第36-37页 |
| ·锁相环的基本模块 | 第37-46页 |
| ·相位检测器 | 第37-38页 |
| ·低通滤波器 | 第38-39页 |
| ·环形压控振荡器(Ring-VCO) | 第39-46页 |
| ·注入式锁相环的基本原理 | 第46-59页 |
| ·同步振荡器(SO) | 第47-54页 |
| ·SO + PLL | 第54-59页 |
| 第三章 时钟恢复电路的噪声 | 第59-73页 |
| ·噪声的类型 | 第59-62页 |
| ·热噪声 | 第59-61页 |
| ·散弹噪声(Shot Noise) | 第61页 |
| ·闪烁噪声(Flicker Noise, 1/f Noise，pink noise) | 第61-62页 |
| ·相位噪声和抖动的基本概念 | 第62-63页 |
| ·时钟恢复电路噪声对系统的影响 | 第63页 |
| ·时钟恢复电路相位噪声与抖动的来源 | 第63-64页 |
| ·锁相环对输入抖动和VCO抖动的响应 | 第64-66页 |
| ·VCO的相位噪声研究 | 第66-71页 |
| ·VCO相位噪声模型 | 第66-70页 |
| ·环形VCO四种类型的噪声 | 第70-71页 |
| ·差动对的噪声 | 第71页 |
| ·注入对噪声性能的影响 | 第71-73页 |
| 第四章 时钟恢复电路的设计与实现 | 第73-88页 |
| ·集成电路的设计流程 | 第73-74页 |
| ·系统设计 | 第74页 |
| ·单元电路设计与分析 | 第74-78页 |
| ·预处理电路 | 第74页 |
| ·鉴相器电路 | 第74-75页 |
| ·低通滤波器 | 第75页 |
| ·同步振荡器 | 第75-77页 |
| ·移相器 | 第77页 |
| ·输入和输出缓冲 | 第77-78页 |
| ·环路设计与分析 | 第78页 |
| ·模拟结果 | 第78-84页 |
| ·预处理电路 | 第78-80页 |
| ·同步振荡器 | 第80-81页 |
| ·鉴相器 | 第81页 |
| ·低通滤波器 | 第81页 |
| ·环路参数 | 第81-82页 |
| ·时钟恢复电路的性能 | 第82-84页 |
| ·容 差 分 析 | 第84页 |
| ·版图设计 | 第84-88页 |
| ·版图设计中考虑的因素 | 第84-85页 |
| ·版图的布局 | 第85-88页 |
| 第五章 芯片测试结果与进一步改进的结果 | 第88-104页 |
| ·芯片测试环境 | 第88页 |
| ·芯片测试的方法 | 第88页 |
| ·芯片测试的仪器 | 第88页 |
| ·第一次流片的测试结果 | 第88-94页 |
| ·注入式时钟恢复电路的测试结果 | 第88-91页 |
| ·注入式锁相环的测试结果 | 第91-93页 |
| ·测试结果分析和改进方案 | 第93-94页 |
| ·改进后PLL的模拟结果和测试结果 | 第94-99页 |
| ·电路结构 | 第94-95页 |
| ·PLL的模拟结果 | 第95页 |
| ·混合信号模型PLL的测试结果 | 第95-99页 |
| ·测试结果分析和结论 | 第99页 |
| ·第三次流片的芯片设计方案和测试结果 | 第99-104页 |
| ·芯片设计方案 | 第99页 |
| ·混合信号模型时钟恢复电路的测试结果 | 第99-104页 |
| 第六章 结 论 | 第104-105页 |
| 致 谢 | 第105-106页 |
| 附 录 | 第106-110页 |
| [1] 图片索引 | 第106-109页 |
| [2] 表格索引 | 第109-110页 |
| 参考文献 | 第110-111页 |