基于CMOS传感器的显微图像处理分析系统设计
| 致谢 | 第1-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 目录 | 第9-12页 |
| 图目录 | 第12-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-19页 |
| ·应用背景 | 第14页 |
| ·发展现状 | 第14-17页 |
| ·数字图像处理发展概述 | 第14-15页 |
| ·显微图像系统发展现状 | 第15-16页 |
| ·图像传感器发展现状 | 第16-17页 |
| ·本文研究意义和内容 | 第17-19页 |
| 第2章 系统 | 第19-24页 |
| ·整体结构概述 | 第19页 |
| ·光学成像部分 | 第19-20页 |
| ·图像采集部分 | 第20-23页 |
| ·软件处理部分 | 第23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 显微图像处理相关理论 | 第24-32页 |
| ·光与颜色 | 第24页 |
| ·图像成像模型 | 第24-25页 |
| ·人眼成像模型 | 第24-25页 |
| ·图像传感器成像模型 | 第25页 |
| ·色温、色适应和白平衡 | 第25-27页 |
| ·色度学和颜色空间 | 第27-29页 |
| ·RGB空间 | 第27页 |
| ·XYZ空间 | 第27-28页 |
| ·HSI空间 | 第28页 |
| ·YUV颜色空间 | 第28-29页 |
| ·设备颜色管理理论 | 第29-31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 图像质量增强和处理 | 第32-56页 |
| ·图像质量校正概述 | 第32-33页 |
| ·去除坏点 | 第33-35页 |
| ·坏点的甄别 | 第33页 |
| ·坏点和噪点 | 第33-34页 |
| ·坏点的消除 | 第34-35页 |
| ·线性化 | 第35-38页 |
| ·图像传感器非线性介绍 | 第35-36页 |
| ·非线性校正 | 第36-38页 |
| ·图像颜色校正 | 第38-41页 |
| ·通过矩阵进行颜色校正 | 第38-40页 |
| ·通过BP神经网络进行颜色校正 | 第40-41页 |
| ·色适应和白平衡 | 第41-48页 |
| ·利用Von Kries公式进行白平衡 | 第41-42页 |
| ·有监督算法实现白平衡 | 第42页 |
| ·利用Nayatani公式进行白平衡 | 第42-48页 |
| ·sRGB空间转换 | 第48-50页 |
| ·Rolling shutter条纹的解决 | 第50-52页 |
| ·条纹的产生 | 第50-52页 |
| ·条纹的消除 | 第52页 |
| ·图像增强 | 第52-55页 |
| ·图像平滑 | 第52-53页 |
| ·边缘增强 | 第53-55页 |
| ·GAMMA校正 | 第55页 |
| ·本章小结 | 第55-56页 |
| 第5章 显微图像的分析和测量 | 第56-70页 |
| ·本章引言 | 第56页 |
| ·显微图像计数算法分析同研究 | 第56-65页 |
| ·图像分割 | 第56-57页 |
| ·连通区域统计计数算法 | 第57-61页 |
| ·孔洞信息的测量 | 第61-63页 |
| ·显微图像的几何标定和几何参数测量 | 第63-65页 |
| ·光密度测量 | 第65-67页 |
| ·光密度介绍 | 第65-66页 |
| ·光密度测量流程 | 第66-67页 |
| ·连通区域光密度 | 第67页 |
| ·基于显微图像分析的维氏硬度测量 | 第67-69页 |
| ·维氏硬度测量方案 | 第67-68页 |
| ·维氏硬度测量步骤 | 第68-69页 |
| ·本章小结 | 第69-70页 |
| 第6章 总结与展望 | 第70-72页 |
| ·总结与不足 | 第70-71页 |
| ·展望 | 第71-72页 |
| 参考文献 | 第72-75页 |
| 硕士在读期间发表的论文 | 第75页 |
